近年來由於IC產品小型化、工作頻率越來越高等趨勢,電路主板測試的困難度也逐漸提升。針對主板測試,目前業界普遍利用X-ray、AOI及ICT測試系統方式進行測試,其中又以X-ray能達到高頻的要求,被業界視為測試技術的明日之星。
在這,卓茂科技給大家舉個例子,就拿手機來說,一般手機都有隔離輻射的防護措施,以避免傷害到人類腦部,但是如此隔離結果,使得AOI無法有效檢測,促成X-ray重要性逐漸提高,在測量市場的地位扶遙直上。X-ray雖然起步較晚,但是為了檢測手機的主板,必須用X-ray的方式做斷層掃描,才能達到測試效果。
不過,目前檢測主板的技術,現階段仍以ICT測試系統為市場主流,估計3~5年內X-ray將引領風騷。而且X-ray和ICT測試系統,將因功能上的互補性,並存於測試市場。
X-ray和ICT測試系統相比,卓茂科技X-ray檢測設備性能更高、性價比也更高。在對高複雜性的產品測試應用中,X-ray是極具競爭的,也是如今成為主流測試技術的原因。