GE推出新型的x|act 檢測軟體,以配合phoenix microme|x and nanome|x 180伏高解析度X射線檢測系統。該軟體可應用於電子部件的手工檢測,以及電子封裝中焊點的全自動、基於CAD的X射線檢測。x|act 檢測軟體操作簡易、可靠性更高,為製造提供實時的圖像信息,確保了缺陷檢測的高精確度。