全球領先的工業自動化控制、測試測量以及信息系統的領先者——日本橫河電機株式會社在11月15日正式發布AQ6375光譜分析儀。這款操作簡單,維護方便的儀器利用衍射光柵測量光譜,波長範圍覆蓋1200~2400nm,波長解析度在0.05~2.0nm之間,最小接收靈敏度為-70dBm,並可依靠橫河專利技術可在1秒內完成對100nm的掃描;具備高精度、高解析度與快速掃描特性的AQ6375主要用於測量各類光器件發射光的光譜成分,它可以更好的滿足半導體雷射器生產企業和光模塊生產企業的評估需要以及大氣傳感行業的監測要求。
橫河電機以多年來在通信波段光譜測量領域積澱的領先技術開發出這款小型高性能的光譜分析儀,能滿足近紅外範圍的測量。它可以對主要用於環境監測領域2μm 波段半導體雷射器進行測量,對改善近紅外半導體雷射器的性能與擴展它的應用提供有效幫助,從而有助於解決環境監測過程中測量解析度、測量速度、可操作性與維護等問題,繼而為提高環境監測工作的效率提供幫助。1200~2400nm的波長覆蓋範圍使它不僅可以對雷射吸收譜進行測量,也可以對1310nm、1550nm通信波段進行測量;不僅可以用於半導體雷射器測量,還可以用於超連續譜(SC)光源的測量。
不僅如此,AQ6375具有較高的波長解析度(0.05nm),比傳統使用獨立分光計進行測量的解析度高很多,同時,AQ6375的波長解析度可以在0.05~2.0nm之間進行設置,這樣結合寬帶光源就可以對光源光器件的波長特性進行測量;其最小接收靈敏度為-70dBm,可以對高信噪比的自發射半導體雷射器進行測量。