粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，被廣泛地應用到建築、塗料、石油、醫藥、環保、食品等領域。從整個中國粒度儀市場來看，其市場容量已突破千臺，而且單從數量上而言，國產粒度儀的市場佔有量接近80%。
近年來，顆粒測試技術進展飛快，粒度測試方法已達百餘種。根據測試原理的不同，主要分為沉降式粒度儀、沉降天平、雷射粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等幾大類。
因具備測量粒度範圍寬、速度快、精度高、操作方便、易於維護等優點，雷射粒度儀已逐漸成為顆粒粒度測試領域中的主流產品。但是由於顆粒測試需求的多樣性，顆粒市場細分已露端倪。
隨著納米科技的發展，納米顆粒測試越來越受到重視，用於納米顆粒測試的動態光散射技術突飛猛進，光子相關技術也炙手可熱，國外廠商已研發出動態光散射雷射粒度儀的成型產品，國內部分廠家已成功研製出基於FPGA技術的數字相關器技術，國產動態光散射納米粒度儀也將紛紛問世。
另外，隨著人們對產品質量要求的不斷提高及工業生產過程自動化的逐漸發展，在線顆粒測試技術將成為顆粒行業競爭的焦點，而國內在這方面還處於空白。
粒度儀新品的詳細內容見如下各分類。
一、納米粒度儀/Zeta電位分析儀
SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀 HORIBA，LTD株式會社堀場製作所北京事務所 上市時間：2010年3月
創新點：
1、 超小體積設計，超寬動態光散射測量範圍：0.3nm～8000nm。
2、 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量，全方位表徵單一體系納米尺度粒子。
3、 雙光路系統（90°和173°）適用於更寬濃度範圍的樣品測量;在單一納米粒子專用光學系統中，採用更低雜散光90°檢測光學系統。
4、 從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態下取樣測定。
5、 微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發，可以測定取樣調查僅100μL的 Zeta 電位。
VASCO系列納米粒度儀 美國麥克儀器公司 上市時間：2010年2月
創新點：
1、 基於法國石油研究所（IFP）專利創新技術，VASCO粒度分析儀的工作原理是背散射光的動態光散射技術。
2、 結合了背散射光檢測器和控制樣品厚度的性能，可避免多散射的影響，實現在高濃度混濁懸浮液中的準確測量。
3、 另外，通常情況下不需要稀釋樣品，樣品可連續測量。
4、 專利創新技術，無消耗部件，易於清洗。