斯派克推出用於貴金屬測試的SPECTROCUBE ED-XRF分析儀

2020-11-28 儀器信息網

近期，斯派克公司推出了一款用於貴金屬測試的小斑點能量色散X射線螢光（ED-XRF）光譜儀，SPECTROCUBE ED-XRF分析儀。這種新型分析儀可為測試中心以及珠寶製造商等單位提供簡便、可靠、準確、高通量的分析，速度是同類分析儀的兩倍。

斯派克這款分析儀採用了先進的無損ED-XRF檢測器技術，可通過直觀的軟體實現快速的檢測，縮減了檢測的間隔和工作流程。同時，這款儀器簡單易用，即使是經過最低限度培訓的用戶，也能實現快速檢測。不僅如此，這臺儀器的尺寸相當，佔地面積小，適合緊湊的臺面空間，也適用於各種從小到大的樣品尺寸。

斯派克ED-XRF具有出色的速度和性能，可為各種濃度樣品提供高精度的檢測，測試時間低至15秒，每天可處理數百個樣品。對於珠寶樣品，儀器最小可以分析面積達0.2毫米。

斯派克ED-XRF產品經過了用戶測試，可連續用於要求苛刻的高通量的質量控制操作，可靠性很高，並且運行和維護成本低，使用壽命長，故障率低。

與許多其他同類的XRF分析儀不同，斯派克ED-XRF採用新型的高解析度矽漂移探測器（SDD）和超高計數率技術。相比上一代型號，在相同的測試時間內提供高達三倍的信號強度，有更高的測試精度。


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