一、實驗目的
1、理解牛頓環和等厚幹涉條紋的形成原因及特點；
2、學習用等厚幹涉法測量透鏡的曲率半徑；
3、掌握讀數顯微鏡的調整和使用；
4、學會用逐差法處理實驗數據。
二、儀器與用具
（通用設備簡單列明，應寫明儀器型號、規格和廠家，有些貴重儀器還要簡單標註注意事項，並用括號圍起來）
三、實驗原理及預習問題
（實驗主要要掌握的原理：設計些問題要學生思考和推導，避免抄書，實驗報告原理部分以此部分內容完成情況進行打分。）
1、簡述牛頓環的構造以及形成幹涉條紋的原因和特點。
2、什麼是半波損失？在怎樣的情況下才會存在半波損失？(查閱課外相關資料)
3、簡單推導幹涉條紋的暗紋的半徑與透鏡曲率和光的波長之間的關係。
4、簡述利用逐差法如何消除由於幹涉環的級數和中心位置不易確定的困難。(用公式說明)
5、簡述測量顯微鏡的使用步驟和注意事項。(參考教材P27的相關內容)
四、實驗內容與步驟
（實驗內容：用十一線電位差計測量乾電池的電動勢和內阻，寫出具體步驟。）
五、數據記錄與數據處理
（注意：要求設計出實驗數據記錄表，原始數據記錄不得用鉛筆填寫，不得大量塗改，實驗完成後必須由指導老師籤字。）
六、實驗小結和體會
1、本次實驗體會最深的是什麼？
2、牛頓環幹涉條紋是怎樣形成的？
3、在使用測量顯微鏡測量數據的過程中，為什麼不能反向轉動測量顯微鏡的測微鼓輪？