對於電路來說,浪湧電流是非常影響整體運行效率的一個問題。設計者們想方設法的對浪湧電流進行規避,因此各種各樣的測試方法應運而生。在本文中,小編將為大家介紹一種二極體正向浪湧電流的測試基本電路。
本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201808/386947.htm正弦半波脈衝電流的產生
二極體的規格繁多,常見的額定通態電流從數百毫安到數百安培甚至更高,IFSM測試需要的峰值脈衝電流要求達到數十倍的額定通態電流值。標準的測試方法是採用大容量工頻變壓器,截取市電交流波形來產生時間常數為10ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈衝,如圖1。
圖1正向浪湧電流測試電路
用這種方法產生幾百上千安培的正弦脈衝電流,所用到的變壓器體積重量都非常可觀,安裝與使用十分不便。一些國外公司的產品對浪湧衝擊電流波形有特殊要求,比如要求在正向整流電流的基礎上再加一個時間常數為10ms或8.3ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈衝電流,或者要求施加連續兩個時間常數為10ms或8.3ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈衝電流等。顯然再採用市電截取的方法,已經很難滿足不同器件的測試要求了。
設計思路
大功率場效應管電晶體是一類標準的電壓控制電流器件,在VDMOS管的線性工作區內,漏極電流受柵極電壓控制:IDS=GFS*VGS。給柵極施加所需要的電壓波形,在漏極就會輸出相應的電流波形。因此,選用大功率VDMOS管適合用於實現所需的浪湧電流波形,電路形式如圖2所示。
圖2 VDMOS電流驅動電路
運放組成基本的反向運算電路,驅動VDMOS管的柵極,漏源電流通過VDMOS管源極取樣電阻,加到運放反向輸入端,與輸入波形相加形成反饋,運放輸出電壓控制VDMOS管的柵極電壓VGS,進而控制漏極輸出電流IDS。這個IDS就是施加給待測二極體(DUT)的正向浪湧電流。
單只VDMOS管的功率和電流放大能力是有限的,無法達到上千安培的輸出電流能力,採用多隻並聯的方式可以解決這個問題,以達到所需要的峰值電流。常見的連接方法如圖3所示。
圖3 VDMOS並聯方式
在以上的內容中,本文對於各種浪湧電流衝擊測試的要求進行了介紹,並且測試所用的元器件都是常見的一些元器件。測試電路擁有體積小重量輕的特點,方便快速組合成測試儀器。在較不穩定環境中進行測量時的優勢較為明顯。