傳統的電容式物位計,隨著物位上漲、物料覆蓋探頭,電路中探頭和介質之間的電容值(導電物料場合)或者探頭和管壁之間的電容值(絕緣物料場合)隨之增加。由於物位的變化導致了電容橋的失衡,所以電容值的變化取決於被測物料的介電常數。然後通過對信號的檢波、放大,最後輸出相應的信號。然而,電容式物位儀表有一些缺點,特別是當探頭有掛料的時候會嚴重影響測量結果。
射頻導納測量技術是具有獨特優勢的物位測量技術。雖然跟一般的電容式測量技術的概念很相似,但是射頻導納技術在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路,因此能夠實現阻抗和容抗的單獨測量。通過物理定律計算可得,任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由掛料產生的影響能夠被測量出來並且通過振蕩電路的移相,從總的輸出中消除。
射頻導納產品的探頭安裝在儲料罐中,通過探頭獲得物位變化引起的射頻信號的變化。
探頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成迴路,保證了儀表測量的準確性。
射頻導納技術測量結果精度高,並且不受探頭掛料的影響,是目前使用場合最廣泛的一種測量技術。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強壓場合、從超短量程到120米超大量程,都能夠正常應用,並且能夠應用於不同類型的物料。