測試目的：驗證被測終端在高低溫環境下運行或存儲的環境適應能力
測試儀器：高低溫試驗箱 冷熱衝擊試驗箱。
技術參數：
1、 高溫存儲：70±2℃ 試驗時間：48H（溫度穩定後開始計算）；
2、低溫存儲：-40±2℃ 試驗時間：48H（溫度穩定後開始計算）；
3、溫度衝擊存儲：溫度在-40±2℃/60±2℃之間交替，10個循環；
4、高溫工作：50±2℃ 試驗時間：24H（溫度穩定後開始計算）；
5、低溫工作：-20±2℃ 試驗時間：24H（溫度穩定後開始計算）；
6、高溫高溼工作：溫度40±3℃，溼度93±3% 試驗時間：24H（溫溼度穩定後開始計算）。
預置條件：被測終端功能完好，外觀正常。
測試步驟：
1、在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查；
2、將被測終端關機狀態放進高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度，溫度達到穩定後持續存儲48小時；
3、將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；
4、 在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查；
5、 將被測終端關機狀態放進高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫下降到-40±2℃溫度，溫度達到穩定後持續存儲48小時；
6、將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；
7、在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查；8、將樣機關機狀態放進冷熱衝擊試驗箱，樣機先在-40℃環境下存儲1小時，在5分鐘之內，溫度上升到60℃存儲1小時，此為一個循環。樣機共測試10個循環；
9、將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；
10、在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查；
11、將待測樣機開機狀態，插入用戶卡，T-flash卡放進高低溫試驗箱，其中一臺樣機插上充電器，另一臺樣機使用電池供電開機；
12、高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設定的溫度，溫度達到穩定後持續24小時；
13、將樣機從試驗箱取出在常溫中恢復2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異，因電池沒電導致的無法開機不算故障，可充電後再進行檢查；
14、 在常溫下對被測終端進行外觀、功能檢查；
15、將待測樣機開機狀態，插入用戶卡，T-flash卡放進高低溫試驗箱，其中一臺樣機插上充電器，另一臺樣機使用電池供電開機。
16、高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設定的溫度，溼度設定為標準要求的溼度，溫溼度達到穩定後持續24小時；
17、將樣機從試驗箱取出在常溫中恢復2小時後，進行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異，因電池沒電導致的無法開機不算故障，可充電後再進行檢查。
預期結果：
1、步驟3後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;
2、步驟6後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;
3、步驟9後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;
4、步驟13後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;
5、步驟17後，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常.備註：
高低溫試驗箱共4臺，分為兩組，兩組並行測試，每組內的測試項串行測試：
第一組：高溫存儲、低溫存儲、溫度衝擊；
第二組：高溫工作、低溫工作、高溫高溼。