11月19日，由中國電子技術標準化研究院（以下簡稱「電子標準院」）聯合愛德萬測試（中國）管理有限公司共同舉辦的「愛德萬測試·中國電子技術標準化研究院 技術研討會」在北京舉辦。本次研討會主要針對汽車電子、人工智慧、高性能處理器、DDR5測試方法等議題進行了研論。
電子標準院孫文龍副院長為技術研討會致辭，並同愛德萬測試（中國）有限公司總經理徐勇先生為「CESI-ADVANTEST聯合實驗室」進行了實驗室揭牌。
電子標準院集成電路測評中心任翔主任對我國汽車電子的市場需求、檢測業務進行了闡述，並結合目前國內汽車電子發展情況，對參會人員講解了中國電子技術標準化研究院汽車電子標準化的工作情況；同時也和參會人員討論了人工智慧晶片國產基準程序的研究測試情況。
電子標準院集成電路測評中心胡海濤工程師對高性能處理器的電參數書測試方法、高速接口測試方法、性能評價方法進行了闡述，同時介紹了集成電路測評中心在為集成電路測試系統資源有限情況下的電參數測試解決方案。
愛德萬測試的相關技術人員講解了下一代高速存儲DDR5的測試解決方案、百億級計算時代加速HPC/AI的測試解決方案等。