APT/場發射TEM/球差矯正TEM、高端熱分析測試……高端測試手段一鍵...

2020-12-17 騰訊網

科學的進步離不開科研者的探索，科研的探索同樣離不開先進儀器設備的進步。材料人始終致力於成為全面、精準、高效的科技服務平臺，匯聚海內外技術人才，共同服務材料科技創新。除了邀請科技人才在材料人網開設課程、做報告以外，我們還邀請了部分測試人才入駐材料人網，為大家帶來幾款相對高端的產品服務。

服務一：電鏡類

場發射透射電鏡（日本電子JEM-2100F）

可以檢測的項目：形貌，衍射，高分辨（TEM解析度0.23nm，STEM/HAADF解析度0.2nm)，能譜EDS(點分析，線掃，面掃mapping，定量分析)

價格：1000元/樣

冷場發射球差矯正透射電鏡（日本電子JEM-ARM300F）

可以檢測的項目; 形貌，衍射，TEM高分辨（解析度0.055nm），STEM/HAADF高分辨（解析度0.055nm），能譜EDS（點分析，線掃，面掃mapping，定量分析），電子能量損失譜EELS（點分析，線掃，面掃mapping，定量分析）

價格：2100元/樣

其他：掃描電鏡(SEM)/聚焦離子束（FIB）/能譜(EDX)/拉曼（Raman）一體機、場發射掃描電鏡、離子減薄儀等

服務二：APT測試

三維原子探針技術（atomprobe tomography, APT）可以確認原子種類並直觀地重構出其空間位置，相對真實地顯示材料中不同元素原子的三維空間分布，成為空間解析度高的分析測試手段。原子探針斷層掃描（APT）發展的前幾十年主要集中於金屬領域。然而，隨著雷射脈衝原子探針系統的引入，在生物材料方面的一些工作已擴展到半導體，陶瓷和地質材料和生物材料。

價格：視測試樣品難度確定

服務三：TA產品系列

目前，我們邀請了TA儀器公司的工程師入駐，帶來一些材料表徵可以為大家提供相應的測試服務。包括熱分析類、吸附類、疲勞測試及其其他等等，具體儀器及測試如下圖列表。

相關儀器圖片：

其他

對於材料類常規表徵的一些其他測試種類，如AFM、EBSD、拉曼、GPC以及包括XRD精修、單晶結構解析等都可以聯繫我們進行諮詢測試。

需求提交

如有相關測試需求，請登錄材料人網提交需求。過程如下：

第一步：註冊並登錄材料人網，在「個人中心」裡面的「需求管理」提交發布「發布新需求」；選擇「分析測試」；

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