顱腦超聲的多探頭方案

新生兒缺血缺氧性腦病（HIE） 是新生兒窒息最嚴重的併發症 也是新生兒死亡和傷殘的主要原因之一， 輕度者預後良好， 嚴重的可引起智力低下、 癲癇及腦癱等腦損害，甚至會導致新生兒早期死亡。

新生兒缺血缺氧性腦病是圍生期新生兒因缺氧引起的腦部病變，常見的原因有各種原因導致的胎兒宮內窘迫，如臍帶繞頸、羊水異常等，也常見於分娩過程及出生後的窒息缺氧，少數可見於其他原因引起的腦損害。

對於HIE的治療，越早開始越好，對於患兒的預後越有好處。因此，早期明確診斷對於指導臨床的治療方案的確定至關重要。由於新生兒囟門尚未閉合，可以作為良好的透聲窗，使顱內各組織結構得以顯像，從而使應用超聲對新生兒的顱內疾病進行診斷提供了良好的條件。

超聲檢查不僅可以評估腦損傷的程度和範圍，同時也可觀察是否存在腦室的擴張，出血等其他併發症的出現。

飛利浦提供了全面的新生兒顱腦解決方案。1、擁有專業的新生兒顱腦微凸陣探頭：C8-5；其前端接觸面積小，扇掃角度大，掃查視野寬（掃查面寬:22.4mm，掃查扇角:122，頻帶:5-8MHz），可以為臨床提供全面而豐富的診斷信息。

2、結合使用L12-5/L18-5高頻線陣探頭，可提供更為卓越的近場圖像，為靠近顱骨的腦組織病變的診斷增強信心。

3、除了常規的二維探頭，飛利浦還提供容積探頭獲取新生兒顱腦的三維成像，結合islice技術，可同屏顯示多幅圖像，更有利於對顱內各組織結構的空間位置關係的理解及對病變的範圍進行更精確的觀察。