HD Tune Pro
是具有許多功能的硬碟/ SSD實用程序。它可用於測量驅動器的性能，掃描錯誤，檢查運行狀況（SMART），安全地擦除所有數據等等。
HDtune其最新版本在2019年8月27日：HD Tune Pro 5.75發布。變化：
添加了對JMicron NVME到USB橋接器的支持固定窗口大小問題過熱顯示為警告而不是故障關於CrystalDiskInfo
HDD / SSD實用程序軟體，支持USB，Intel / AMD RAID和NVMe的一部分。
下面呢，就簡單介紹下軟體的相關參數解讀，以及使用要點
1.啟動軟體後你會看到我們自己硬碟的一些基本規格參數和型號，其中【硬碟健康狀態】恐怕是我們最為關心的數據的綜合顯示了~當然，若是良好的話那麼你就不必去管他了，若是出現【黃色的警告】或是【紅色的損毀】的話，這時你便可以從下欄的視窗列表中查看具體存在哪些錯誤以便你及時處理避免硬碟裡面的資料丟失
2.點擊【功能】——【圖表】，在這裡 CrystalDiskInfo 以下拉菜單的方式將我們硬碟的各種相關信息以圖表狀的方式清晰的呈現在我們眼前
那麼軟體那麼多參數是什麼意思呢？看下面
當前值（value）當前值是各ID項在硬碟運行時根據實測原始數據（Raw value）通過公式計算的結果，1到253之間。253意味著最好情況，1意味著最壞情況。計算公式由硬碟廠家自定。硬碟出廠時各ID項目都有一個預設的最大正常值，也即出廠值，這個預設的依據及計算方法為硬碟廠家保密，不同型號的硬碟都不同，最大正常值通常為100或200或253，新硬碟剛開始使用時顯示的當前值可以認為是預設的最大正常值（有些ID項如溫度等除外）。隨著使用損耗或出現錯誤，當前值會根據實測數據而不斷刷新並逐漸減小。因此，當前值接近臨界值就意味著硬碟壽命的減少，發生故障的可能性增大，所以當前值也是判定硬碟健康狀態或推測壽命的依據之一。最差值（Worst）最差值是硬碟運行時各ID項曾出現過的最小的value。最差值是對硬碟運行中某項數據變劣的峰值統計，該數值也會不斷刷新。通常，最差值與當前值是相等的，如果最差值出現較大的波動（小於當前值），表明硬碟曾出現錯誤或曾經歷過惡劣的工作環境（如溫度）。臨界值（Threshold）在報告硬碟FAILED狀態前，WORST可以允許的最小值。臨界值是硬碟廠商指定的表示某一項目可靠性的門限值，也稱閾值，它通過特定公式計算而得。如果某個參數的當前值接近了臨界值，就意味著硬碟將變得不可靠，可能導致數據丟失或者硬碟故障。由於臨界值是硬碟廠商根據自己產品特性而確定的，因此用廠商提供的專用檢測軟體往往會跟Windows下檢測軟體的檢測結果有較大出入。硬碟的每項SMART信息中都有一個臨界值（閾值），不同硬碟的臨界值是不同的，SMART針對各項的當前值、最差值和臨界值的比較結果以及數據值進行分析後，提供硬碟當前的評估狀態，也是我們直觀判斷硬碟健康狀態的重要信息。根據SMART的規定，狀態一般有正常、警告、故障或錯誤三種狀態。SMART判定這三個狀態與SMART的 Pre-failure/advisory BIT（預測錯誤/發現位）參數的賦值密切相關，當Pre-failure/advisory BIT=0，並且當前值、最差值遠大於臨界值的情況下，為正常標誌。當Pre-failure/advisory BIT=0，並且當前值、最差值大於但接近臨界值時，為警告標誌；當Pre-failure/advisory BIT=1，並且當前值、最差值小於臨界值時，為故障或錯誤標誌原始值(RAW_VALUE)製造商定義的原始值，從VALUE派生。數據值是硬碟運行時各項參數的實測值，大部分SMART工具以十進位顯示數據。數據值代表的意義隨參數而定，大致可以分為三類：1）數據值並不直接反映硬碟狀態，必須經過硬碟內置的計算公式換算成當前值才能得出結果；2）數據值是直接累計的，如Start/Stop Count（啟動/停止計數）的數據是50，即表示該硬碟從出廠到現在累計啟停了50次；3）有些參數的數據是即時數，如Temperature（溫度）的數據值是44，表示硬碟的當前溫度是44℃。因此，有些參數直接查看數據也能大致了解硬碟目前的工作狀態。01（001）底層數據讀取錯誤率 Raw Read Error Rate數據為0或任意值，當前值應遠大於與臨界值。底層數據讀取錯誤率是磁頭從磁碟表面讀取數據時出現的錯誤，對某些硬碟來說，大於0的數據表明磁碟表面或者讀寫磁頭發生問題，如介質損傷、磁頭汙染、磁頭共振等等。不過對希捷硬碟來說，許多硬碟的這一項會有很大的數據量，這不代表有任何問題，主要是看當前值下降的程度。在固態硬碟中，此項的數據值包含了可校正的錯誤與不可校正的RAISE錯誤（UECC＋URAISE）。註：RAISE（Redundant Array of Independent Silicon Elements）意為獨立矽元素冗餘陣列，是固態硬碟特有的一種冗餘恢復技術，保證內部有類似RAID陣列的數據安全性。02（002）磁碟讀寫通量性能 Throughput Performance此參數表示硬碟的讀寫通量性能，數據值越大越好。當前值如果偏低或趨近臨界值，表示硬碟存在嚴重的問題，但現在的硬碟通常顯示數據值為0或根本不顯示此項，一般在進行了人工脫機SMART測試後才會有數據量。03（003）主軸起旋時間 Spin Up Time主軸起旋時間就是主軸電機從啟動至達到額定轉速所用的時間，數據值直接顯示時間，單位為毫秒或者秒，因此數據值越小越好。不過對於正常硬碟來說，這一項僅僅是一個參考值，硬碟每次的啟動時間都不相同，某次啟動的稍慢些也不表示就有問題。硬碟的主軸電機從啟動至達到額定轉速大致需要4秒～15秒左右，過長的啟動時間說明電機驅動電路或者軸承機構有問題。旦這一參數的數據值在某些型號的硬碟上總是為0，這就要看當前值和最差值來判斷了。對於固態硬碟來說，所有的數據都是保存在半導體集成電路中，沒有主軸電機，所以這項沒有意義，數據固定為0，當前值固定為100。04（004）啟停計數 Start/Stop Count這一參數的數據是累計值，表示硬碟主軸電機啟動/停止的次數，新硬碟通常只有幾次，以後會逐漸增加。系統的某些功能如空閒時關閉硬碟等會使硬碟啟動/停止的次數大為增加，在排除定時功能的影響下，過高的啟動/停止次數（遠大於通電次數0C）暗示硬碟電機及其驅動電路可能有問題。這個參數的當前值是依據某種公式計算的結果，例如對希捷某硬碟來說臨界值為20，當前值是通過公式「100－（啟停計數/1024）」計算得出的。若新硬碟的啟停計數為0，當前值為100－(0/1024)＝100，隨著啟停次數的增加，該值不斷下降，當啟停次數達到81920次時，當前值為100－(81920/1024)＝20，已達到臨界值，表示從啟停次數來看，該硬碟已達設計壽命，當然這只是個壽命參考值，並不具有確定的指標性。這一項對於固態硬碟同樣沒有意義，數據固定為0，當前值固定為100。05（005）重映射扇區計數 Reallocated Sectors Count/ 退役塊計數 Retired Block Count數據應為0，當前值應遠大於臨界值。當硬碟的某扇區持續出現讀/寫/校驗錯誤時，硬碟固件程序會將這個扇區的物理地址加入缺陷表(G-list)，將該地址重新定向到預先保留的備用扇區並將其中的數據一併轉移，這就稱為重映射。執行重映射操作後的硬碟在Windows常規檢測中是無法發現不良扇區的，因其地址已被指向備用扇區，這等於屏蔽了不良扇區。這項參數的數據值直接表示已經被重映射扇區的數量，當前值則隨著數據值的增加而持續下降。當發現此項的數據值不為零時，要密切注意其發展趨勢，若能長期保持穩定，則硬碟還可以正常運行；若數據值不斷上升，說明不良扇區不斷增加，硬碟已處於不穩定狀態，應當考慮更換了。如果當前值接近或已到達臨界值（此時的數據值並不一定很大，因為不同硬碟保留的備用扇區數並不相同），表示缺陷表已滿或備用扇區已用盡，已經失去了重映射功能，再出現不良扇區就會顯現出來並直接導致數據丟失。這一項不僅是硬碟的壽命關鍵參數，而且重映射扇區的數量也直接影響硬碟的性能，例如某些硬碟會出現數據量很大，但當前值下降不明顯的情況，這種硬碟儘管還可正常運行，但也不宜繼續使用。因為備用扇區都是位於磁碟尾部（靠近碟片軸心處），大量的使用備用扇區會使尋道時間增加，硬碟性能明顯下降。這個參數在機械硬碟上是非常敏感的，而對於固態硬碟來說同樣具有重要意義。快閃記憶體的壽命是正態分布的，例如說MLC能寫入一萬次以上，實際上說的是寫入一萬次之前不會發生「批量損壞」，但某些單元可能寫入幾十次就損壞了。換言之，機械硬碟的碟片不會因讀寫而損壞，出現不良扇區大多與工藝質量相關，而快閃記憶體的讀寫次數則是有限的，因而損壞是正常的。所以固態硬碟在製造時也保留了一定的空間，當某個存儲單元出現問題後即把損壞的部分隔離，用好的部分來頂替。這一替換方法和機械硬碟的扇區重映射是一個道理，只不過機械硬碟正常時極少有重映射操作，而對於固態硬碟是經常性的。在固態硬碟中這一項的數據會隨著使用而不斷增長，只要增長的速度保持穩定就可以。通常情況下，數據值＝100－（100×被替換塊/必需塊總數），因此也可以估算出硬碟的剩餘壽命。Intel固態硬碟型號的第十二個字母表示了兩種規格，該字母為1表示第一代的50納米技術的SSD，為2表示第二代的34納米技術的SSD，如SSDSA2M160G2GN就表示是34nm的SSD。所以參數的查看也有兩種情況：50nm的SSD（一代）要看當前值。這個值初始是100，當出現替換塊的時候這個值並不會立即變化，一直到已替換四個塊時這個值變為1，之後每增加四個塊當前值就＋1。也就是100對應0～3個塊，1對應4～7個塊，2對應8～11個塊……34nm的SSD（二代）直接查看數據值，數據值直接表示有多少個被替換的塊。06（006）讀取通道餘量 Read Channel Margin這一項功能不明，現在的硬碟也不顯示這一項。07（007）尋道錯誤率 Seek Error Rate數據應為0，當前值應遠大於與臨界值。這一項表示磁頭尋道時的錯誤率，有眾多因素可導致尋道錯誤率上升，如磁頭組件的機械系統、伺服電路有局部問題，碟片表面介質不良，硬碟溫度過高等等。通常此項的數據應為0，但對希捷硬碟來說，即使是新硬碟，這一項也可能有很大的數據量，這不代表有任何問題，還是要看當前值是否下降。08（008）尋道性能 Seek Time Performance此項表示硬碟尋道操作的平均性能（尋道速度），通常與前一項（尋道錯誤率）相關聯。當前值持續下降標誌著磁頭組件、尋道電機或伺服電路出現問題，但現在許多硬碟並不顯示這一項。09（009）通電時間累計 Power-On Time Count (POH)這個參數的含義一目了然，表示硬碟通電的時間，數據值直接累計了設備通電的時長，新硬碟當然應該接近0，但不同硬碟的計數單位有所不同，有以小時計數的，也有以分、秒甚至30秒為單位的，這由磁碟製造商來定義。這一參數的臨界值通常為0，當前值隨著硬碟通電時間增加會逐漸下降，接近臨界值表明硬碟已接近預計的設計壽命，當然這並不表明硬碟將出現故障或立即報廢。參考磁碟製造商給出的該型號硬碟的MTBF（平均無故障時間）值，可以大致估計剩餘壽命或故障概率。對於固態硬碟，要注意「設備優先電源管理功能（device initiated power management，DIPM）」會影響這個統計：如果啟用了DIPM，持續通電計數裡就不包括睡眠時間；如果關閉了DIPM功能，那麼活動、空閒和睡眠三種狀態的時間都會被統計在內。0A（010）主軸起旋重試次數 Spin up Retry Count數據應為0，當前值應大於臨界值。主軸起旋重試次數的數據值就是主軸電機嘗試重新啟動的計數，即主軸電機啟動後在規定的時間裡未能成功達到額定轉速而嘗試再次啟動的次數。數據量的增加表示電機驅動電路或是機械子系統出現問題，整機供電不足也會導致這一問題。0B（011）磁頭校準重試計數 Calibration Retry Count數據應為0，當前值應遠大於與臨界值。硬碟在溫度發生變化時，機械部件（特別是碟片）會因熱脹冷縮出現形變，因此需要執行磁頭校準操作消除誤差，有的硬碟還內置了磁頭定時校準功能。這一項記錄了需要再次校準（通常因上次校準失敗）的次數。這一項的數據量增加，表示電機驅動電路或是機械子系統出現問題，但有些型號的新硬碟也有一定的數據量，並不表示有問題，還要看當前值和最差值。0C（012）通電周期計數 Power Cycle Count通電周期計數的數據值表示了硬碟通電/斷電的次數，即電源開關次數的累計，新硬碟通常只有幾次。這一項與啟停計數（04）是有區別的，一般來說，硬碟通電/斷電意味著計算機的開機與關機，所以經歷一次開關機數據才會加1；而啟停計數（04）表示硬碟主軸電機的啟動/停止（硬碟在運行時可能多次啟停，如系統進入休眠或被設置為空閒多少時間而關閉）。所以大多情況下這個通電/斷電的次數會小於啟停計數（04）的次數。通常，硬碟設計的通電次數都很高，如至少5000次，因此這一計數只是壽命參考值，本身不具指標性。0D（013）軟體讀取錯誤率 Soft Read Error Rate軟體讀取錯誤率也稱為可校正的讀取誤碼率，就是報告給作業系統的未經校正的讀取錯誤。數據值越低越好，過高則可能暗示碟片磁介質有問題。AA（170）壞塊增長計數 Grown Failing Block Count（Micron 鎂光）讀寫失敗的塊增長的總數。AB（171）編程失敗塊計數 Program Fail Block CountFlash編程失敗塊的數量。AC（172）擦寫失敗塊計數 Erase Fail Block Count擦寫失敗塊的數量。AD（173）磨損平衡操作次數（平均擦寫次數） / Wear Leveling Count（Micron 鎂光）所有好塊的平均擦寫次數。Flash晶片有寫入次數限制，當使用FAT文件系統時，需要頻繁地更新文件分配表。如果快閃記憶體的某些區域讀寫過於頻繁，就會比其它區域磨損的更快，這將明顯縮短整個硬碟的壽命（即便其它區域的擦寫次數還遠小於最大限制）。所以，如果讓整個區域具有均勻的寫入量，就可明顯延長晶片壽命，這稱為磨損均衡措施。AE（174）意外失電計數 Unexpected Power Loss Count硬碟自啟用後發生意外斷電事件的次數。B1（177）磨損範圍對比值 Wear Range Delta磨損最重的塊與磨損最輕的塊的磨損百分比之差。B4（180）未用的備用塊計數 Unused Reserved Block Count Total（惠普）固態硬碟會保留一些容量來準備替換損壞的存儲單元，所以可用的預留空間數非常重要。這個參數的當前值表示的是尚未使用的預留的存儲單元數量。B5（181）編程失敗計數 Program Fail Count用4個字節顯示已編程失敗的次數，與（AB）參數相似。B5（181）非4KB對齊訪問數 Non-4k Aligned Access（Micron 鎂光）B6（182）擦寫失敗計數 Erase Fail Count用4個字節顯示硬碟自啟用後塊擦寫失敗的次數，與（AC）參數相似。B7（183）串口降速錯誤計數 SATA Downshift Error Count這一項表示了SATA接口速率錯誤下降的次數。通常硬碟與主板之間的兼容問題會導致SATA傳輸級別降級運行。B8（184）I/O錯誤檢測與校正 I/O Error Detection and Correction（IOEDC）「I/O錯誤檢測與校正」是惠普公司專有的SMART IV技術的一部分，與其他製造商的I/O錯誤檢測和校正架構一樣，它記錄了數據通過驅動器內部高速緩存RAM傳輸到主機時的奇偶校驗錯誤數量。B8（184）點到點錯誤檢測計數 End to End Error Detection CountIntel第二代的34nm固態硬碟有點到點錯誤檢測計數這一項。固態硬碟裡有一個LBA（logical block addressing，邏輯塊地址）記錄，這一項顯示了SSD內部邏輯塊地址與真實物理地址間映射的出錯次數。B8（184）原始壞塊數 Init Bad Block Count（Indilinx晶片）硬碟出廠時已有的壞塊數量。B9（185）磁頭穩定性 Head Stability（威騰電子）意義不明。BA（186）感應運算振動檢測 nduced Op-Vibration Detection（威騰電子）意義不明。BB（187）無法校正的錯誤 Reported Uncorrectable Errors（希捷）報告給作業系統的無法通過硬體ECC校正的錯誤。如果數據值不為零，就應該備份硬碟上的數據了。報告給作業系統的在所有存取命令中出現的無法校正的RAISE（URAISE）錯誤。BC（188）命令超時 Command Timeout由於硬碟超時導致操作終止的次數。通常數據值應為0，如果遠大於零，最有可能出現的是電源供電問題或者數據線氧化致使接觸不良，也可能是硬碟出現嚴重問題。BD（189）高飛寫入 High Fly Writes磁頭飛行高度監視裝置可以提高讀寫的可靠性，這一裝置時刻監測磁頭的飛行高度是否在正常範圍來保證可靠的寫入數據。如果磁頭的飛行高度出現偏差，寫入操作就會停止，然後嘗試重新寫入或者換一個位置寫入。這種持續的監測過程提高了寫入數據的可靠性，同時也降低了讀取錯誤率。這一項的數據值就統計了寫入時磁頭飛行高度出現偏差的次數。BD（189）出廠壞塊計數 Factory Bad Block Count（Micron 鎂光晶片）BE（190）氣流溫度 Airflow Temperature這一項表示的是硬碟內部碟片表面的氣流溫度。在希捷公司的某些硬碟中，當前值=（100－當前溫度），因此氣流溫度越高，當前值就越低，最差值則是當前值曾經到達過的最低點，臨界值由製造商定義的最高允許溫度來確定，而數據值不具實際意義。許多硬碟也沒有這一項參數。BF（191）衝擊錯誤率 G-sense error rate這一項的數據值記錄了硬碟受到機械衝擊導致出錯的頻度。C0（192）斷電返回計數 Power-Off Retract Count當計算機關機或意外斷電時，硬碟的磁頭都要返回停靠區，不能停留在碟片的數據區裡。正常關機時電源會給硬碟一個通知，即Standby Immediate，就是說主機要求將緩存數據寫入硬碟，然後就準備關機斷電了（休眠、待機也是如此）；意外斷電則表示硬碟在未收到關機通知時就失電，此時磁頭會自動復位，迅速離開碟片。這個參數的數據值累計了磁頭返回的次數。但要注意這個參數對某些硬碟來說僅記錄意外斷電時磁頭的返回動作；而某些硬碟記錄了所有（包括休眠、待機，但不包括關機時）的磁頭返回動作；還有些硬碟這一項沒有記錄。因此這一參數的數據值在某些硬碟上持續為0或稍大於0，但在另外的硬碟上則會大於通電周期計數（0C）或啟停計數（04）的數據。在一些新型節能硬碟中，這一參數的數據量還與硬碟的節能設計相關，可能會遠大於通電周期計數（0C）或啟停計數（04）的數據，但又遠小於磁頭加載/卸載計數（C1）的數據量。對於固態硬碟來說，雖然沒有磁頭的加載/卸載操作，但這一項的數據量仍然代表了不安全關機，即發生意外斷電的次數。C1（193）磁頭加載/卸載計數 Load/Unload Cycle Count對於過去的硬碟來說，碟片停止旋轉時磁頭臂停靠於碟片中心軸處的停泊區，磁頭與碟片接觸，只有當碟片旋轉到一定轉速時，磁頭才開始漂浮於碟片之上並開始向外側移動至數據區。這使得磁頭在硬碟啟停時都與碟片發生摩擦，雖然碟片的停泊區不存儲數據，但無疑啟停一個循環，就使磁頭經歷兩次磨損。所以對以前的硬碟來說，磁頭起降（加載/卸載）次數是一項重要的壽命關鍵參數。而在現代硬碟中，平時磁頭臂是停靠於碟片之外的一個專門設計的停靠架上，遠離碟片。只有當碟片旋轉達到額定轉速後，磁頭臂才開始向內（碟片軸心）轉動使磁頭移至碟片區域（加載），磁頭臂向外轉動返回至停靠架即卸載。這樣就徹底杜絕了硬碟啟停時磁頭與碟片接觸的現象，威騰電子公司將其稱為「斜坡加載技術」。由於磁頭在加載/卸載過程中始終不與碟片接觸，不存在磁頭的磨損，使得這一參數的重要性已經大大下降。這個參數的數據值就是磁頭執行加載/卸載操作的累計次數。從原理上講，這個加載/卸載次數應當與硬碟的啟停次數相當，但對於筆記本內置硬碟以及臺式機新型節能硬碟來說，這一項的數據量會很大。這是因為磁頭臂組件設計有一個固定的返回力矩，保證在意外斷電時磁頭能靠彈簧力自動離開碟片半徑範圍，迅速返回停靠架。所以要讓硬碟運行時磁頭保持在碟片的半徑之內，就要使磁頭臂驅動電機（尋道電機）持續通以電流。而讓磁頭臂在硬碟空閒幾分鐘後就立即執行卸載動作，返回到停靠架上，既有利於節能，又降低了硬碟受外力衝擊導致磁頭與碟片接觸的概率。雖然再次加載會增加一點尋道時間，但畢竟弊大於利，所以在這類硬碟中磁頭的加載/卸載次數會遠遠大於通電周期計數（0C）或啟停計數（04）的數據量。不過這種加載/卸載方式已經沒有了磁頭與碟片的接觸，所以設計值也已大大增加，通常筆記本內置硬碟的磁頭加載/卸載額定值在30～60萬次，而臺式機新型節能硬碟的磁頭加載/卸載設計值可達一百萬次。C2（194）溫度 Temperature溫度的數據值直接表示了硬碟內部的當前溫度。硬碟運行時最好不要超過45℃，溫度過高雖不會導致數據丟失，但引起的機械變形會導致尋道與讀寫錯誤率上升，降低硬碟性能。硬碟的最高允許運行溫度可查看硬碟廠商給出的數據，一般不會超過60℃。不同廠家對溫度參數的當前值、最差值和臨界值有不同的表示方法：希捷公司某些硬碟的當前值就是實際溫度（攝氏）值，最差值則是曾經達到過的最高溫度，臨界值不具意義；而威騰電子公司一些硬碟的最差值是溫度上升到某值後的時間函數，每次升溫後的持續時間都將導致最差值逐漸下降，當前值則與當前溫度成反比，即當前溫度越高，當前值越低，隨實際溫度波動。C3（195）硬體ECC校正 Hardware ECC RecoveredECC（Error Correcting Code）的意思是「錯誤檢查和糾正」，這個技術能夠容許錯誤，並可以將錯誤更正，使讀寫操作得以持續進行，不致因錯誤而中斷。這一項的數據值記錄了磁頭在碟片上讀寫時通過ECC技術校正錯誤的次數，不過許多硬碟有其製造商特定的數據結構，因此數據量的大小並不能直接說明問題。C3（195）實時無法校正錯誤計數 On the fly ECC Uncorrectable Error Count這一參數記錄了無法校正（UECC）的錯誤數量。C3（195）編程錯誤塊計數 Program Failure block Count（Indilinx晶片）C4（196）重映射事件計數 Reallocetion Events Count數據應為0，當前值應遠大於臨界值。這個參數的數據值記錄了將重映射扇區的數據轉移到備用扇區的嘗試次數，是重映射操作的累計值，成功的轉移和不成功的轉移都會被計數。因此這一參數與重映射扇區計數（05）相似，都是反映硬碟已經存在不良扇區。C4（196）擦除錯誤塊計數 Erase Failure block Count（Indilinx晶片）在固態硬碟中，這一參數記錄了被重映射的塊編程失敗的數量。C5（197）當前待映射扇區計數 Current Pending Sector Count數據應為0，當前值應遠大於臨界值。這個參數的數據表示了「不穩定的」扇區數，即等待被映射的扇區（也稱「被掛起的扇區」）數量。如果不穩定的扇區隨後被讀寫成功，該扇區就不再列入等待範圍，數據值就會下降。僅僅讀取時出錯的扇區並不會導致重映射，只是被列入「等待」，也許以後讀取就沒有問題，所以只有在寫入失敗時才會發生重映射。下次對該扇區寫入時如果繼續出錯，就會產生一次重映射操作，此時重映射扇區計數（05）與重映射事件計數（C4）的數據值增加，此參數的數據值下降。C5（197）讀取錯誤塊計數（不可修復錯誤）Read Failure block Count（Indilinx晶片）C6（198）脫機無法校正的扇區計數 Offline Uncorrectable Sector Count數據應為0，當前值應遠大於臨界值。這個參數的數據累計了讀寫扇區時發生的無法校正的錯誤總數。數據值上升表明碟片表面介質或機械子系統出現問題，有些扇區肯定已經不能讀取，如果有文件正在使用這些扇區，作業系統會返回讀盤錯誤的信息。下一次寫操作時會對該扇區執行重映射。C6（198）總讀取頁數 Total Count of Read Sectors（Indilinx晶片）C7（199）Ultra ATA訪問校驗錯誤率 Ultra ATA CRC Error Rate這個參數的數據值累計了通過接口循環冗餘校驗（Interface Cyclic Redundancy Check，ICRC）發現的數據線傳輸錯誤的次數。如果數據值不為0且持續增長，表示硬碟控制器→數據線→硬碟接口出現錯誤，劣質的數據線、接口接觸不良都可能導致此現象。由於這一項的數據值不會復零，所以某些新硬碟也會出現一定的數據量，只要更換數據線後數據值不再繼續增長，即表示問題已得到解決。C7（199）總寫入頁數 Total Count of Write Sectors（Indilinx晶片）C8（200）寫入錯誤率 Write Error Rate / 多區域錯誤率 Multi-Zone Error Rate（威騰電子）數據應為0，當前值應遠大於臨界值。這個參數的數據累計了向扇區寫入數據時出現錯誤的總數。有的新硬碟也會有一定的數據量，若數據值持續快速升高（當前值偏低），表示碟片、磁頭組件可能有問題。C8（200）總讀取指令數 Total Count of Read Command（Indilinx晶片）C9（201）脫道錯誤率 Off Track Error Rate / 邏輯讀取錯誤率 Soft Read Error Rate數據值累積了讀取時脫軌的錯誤數量，如果數據值不為0，最好備份硬碟上的資料。C9（201）TA Counter Detected（意義不明）C9（201）寫入指令總數 Total Count of Write Command（Indilinx晶片）CA（202）數據地址標記錯誤 Data Address Mark errors此項的數據值越低越好（或者由製造商定義）。CA（202）TA Counter Increased（意義不明）CA（202）剩餘壽命 Percentage Of The Rated Lifetime Used（Micron 鎂光晶片）當前值從100開始下降至0，表示所有塊的擦寫餘量統計。計算方法是以MLC擦寫次數除以50，SLC擦寫次數除以1000，結果取整數，將其與100的差值作為當前值（MLC預計擦寫次數為5000，SLC預計擦寫次數為100000）。CA（202）快閃記憶體總錯誤bit數 Total Count of error bits from flash（Indilinx晶片）CB（203）軟體ECC錯誤數 Run Out Cancel錯誤檢查和糾正（ECC）出錯的頻度。CB（203）校正bit錯誤的總讀取頁數 Total Count of Read Sectors with correct bits error（Indilinx晶片）CC（204）軟體ECC校正 Soft ECC Correction通過軟體ECC糾正錯誤的計數。CC（204）壞塊滿標誌 Bad Block Full Flag（Indilinx晶片）CD（205）熱騷動錯誤率 Thermal Asperity Rate (TAR)由超溫導致的錯誤。數據值應為0。CD（205）最大可編程/擦除次數 Max P/E Count（Indilinx晶片）CE（206）磁頭飛行高度 Flying Height磁頭距離碟片表面的垂直距離。高度過低則增加了磁頭與碟片接觸導致損壞的可能性；高度偏高則增大了讀寫錯誤率。不過準確地說，硬碟中並沒有任何裝置可以直接測出磁頭的飛行高度，製造商也只是根據磁頭讀取的信號強度來推算磁頭飛行高度。CE（206）底層數據寫入出錯率 Write Error RateCE（206）最小擦寫次數 Erase Count Min（Indilinx晶片）CF（207）主軸過電流 Spin High Current數據值記錄了主軸電機運行時出現浪湧電流的次數，數據量的增加意味著軸承或電機可能有問題。CF（207）最大擦寫次數 Erase Count Max（Indilinx晶片）D0（208）主軸電機重啟次數 Spin Buzz數據值記錄了主軸電機反覆嘗試啟動的次數，這通常是由於電源供電不足引起的。D0（208）平均擦寫次數Erase Count Average（Indilinx晶片）D1（209）脫機尋道性能 Offline Seek Performance這一項表示驅動器在脫機狀態下的尋道性能，通常用於工廠內部測試。D1（209）剩餘壽命百分比 Remaining Life %（Indilinx晶片）D2（210）斜坡加載值 Ramp Load Value這一項僅見於幾年前邁拓製造的部分硬碟。通常數據值為0，意義不明。D2（210）壞塊管理錯誤日誌 BBM Error Log（Indilinx晶片）D3（211）寫入時振動 Vibration During Write寫入數據時受到受到外部振動的記錄。D3（211）SATA主機接口CRC寫入錯誤計數 SATA Error Count CRC (Write)（Indilinx晶片）D4（212）寫入時衝擊 Shock During Write寫入數據時受到受到外部機械衝擊的記錄。D4（212）SATA主機接口讀取錯誤計數 SATA Error Count Count CRC (Read)（Indilinx晶片）DC（220）碟片偏移量 Disk Shift硬碟中的碟片相對主軸的偏移量（通常是受外力衝擊或溫度變化所致），單位未知，數據值越小越好。DD（221）衝擊錯誤率 G-sense error rate與（BF）相同，數據值記錄了硬碟受到外部機械衝擊或振動導致出錯的頻度。DE（222）磁頭尋道時間累計 Loaded Hours磁頭臂組件運行的小時數，即尋道電機運行時間累計。DF（223）磁頭加載/卸載重試計數 Load/Unload Retry Count這一項與（C1）項類似，數據值累積了磁頭嘗試重新加載/卸載的次數。E0（224）磁頭阻力 Load Friction磁頭工作時受到的機械部件的阻力。E1（225）主機寫入數據量 Host Writes由於快閃記憶體的擦寫次數是有限的，所以這項是固態硬碟特有的統計。Intel的SSD是每當向硬碟寫入了65536個扇區，這一項的數據就＋1。如果用HDTune等軟體查看SMART時可以自己計算，Intel SSD Toolbox已經為你算好了，直接就顯示了曾向SSD中寫入過的數據量。E2（226）磁頭加載時間累計 Load 'In'-time磁頭組件運行時間的累積數，即磁頭臂不在停靠區的時間，與（DE）項相似。E3（227）扭矩放大計數 Torque Amplification Count主軸電機試圖提高扭矩來補償碟片轉速變化的次數。當主軸軸承存在問題時，主軸電機會嘗試增加驅動力使碟片穩定旋轉。這個參數的當前值下降，說明硬碟的機械子系統出現了嚴重的問題。E4（228）斷電返回計數 Power-Off Retract Cycle數據值累計了磁頭因設備意外斷電而自動返回的次數，與（C0）項相似。E6（230）GMR磁頭振幅 GMR Head Amplitude磁頭「抖動」，即正向/反嚮往復運動的距離。E7（231）溫度 Temperature溫度的數據值直接表示了硬碟內部的當前溫度，與（C2）項相同。E7（231）剩餘壽命 SSD Life Left剩餘壽命是基於P/E周期與可用的備用塊作出的預測。新硬碟為100；10表示PE周期已到設計值，但尚有足夠的保留塊；0表示保留塊不足，硬碟將處於只讀方式以便備份數據。E8（232）壽命餘量 Endurance Remaining壽命餘量是指硬碟已擦寫次數與設計最大可擦寫次數的百分比，與（CA）項相似。E8（232）預留空間剩餘量 Available Reserved Space（Intel晶片）對於Intel的SSD來說，前邊05項提到會保留一些容量來準備替換損壞的存儲單元，所以可用的預留空間數非常重要。當保留的空間用盡，再出現損壞的單元就將出現數據丟失，這個SSD的壽命就結束了。所以僅看05項意義並不大，這一項才最重要。這項參數可以看當前值，新的SSD裡所有的預留空間都在，所以是100。隨著預留空間的消耗，當前值將不斷下降，減小到接近臨界值（一般是10）時，就說明只剩下10%的預留空間了，SSD的壽命將要結束。這個與（B4）項相似。E9（233）通電時間累計 Power-On Hours對於普通硬碟來說，這一項與（09）相同。E9（233）介質磨耗指數 Media Wareout Indicator（Intel晶片）由於固態硬碟的擦寫次數是有限的，當到達一定次數的時候，就會出現大量的單元同時損壞，這時候預留空間也頂不住了，所以這項參數實際上表示的是硬碟設計壽命。Intel的SSD要看當前值，隨著NAND的平均擦寫次數從0增長到最大的設計值，這一參數的當前值從開始的100逐漸下降至1為止。這表示SSD的設計壽命已經終結。當然到達設計壽命也不一定意味著SSD就立即報廢，這與快閃記憶體晶片的品質有著很大的關係。註：Total Erase Count全擦寫計數是指固態硬碟中所有塊的擦寫次數的總和，不同規格的NAND晶片以及不同容量的SSD，其最大全擦寫次數均有所不同。F0（240）磁頭飛行時間 Head Flying Hours / 傳輸錯誤率 Transfer Error Rate（富士通）磁頭位於工作位置的時間。富士通硬碟表示在數據傳輸時連接被重置的次數。F1（241）LBA寫入總數 Total LBAs WrittenLBA寫入數的累計。F1（241）寫入剩餘壽命 Lifetime Writes from Host自硬碟啟用後主機向硬碟寫入的數據總量，以4個字節表示，每寫入64GB字節作為一個單位。F2（242）LBA讀取總數 Total LBAs ReadLBA讀取數的累計。某些SMART讀取工具會顯示負的數據值，是因為採用了48位LBA，而不是32位LBA。F2（242）讀取剩餘壽命 Lifetime Reads from Host自硬碟啟用後主機從硬碟讀取的數據總量，以4個字節表示，每讀取64GB字節作為一個單位。FA（250）讀取錯誤重試率 Read Error Retry Rate從磁碟上讀取時出錯的次數。FE（254）自由墜落保護 Free Fall Protection現在有些筆記本硬碟具有自由墜落保護功能，當硬碟內置的加速度探測裝置檢測到硬碟位移時，會立即停止讀寫操作，將磁頭臂復位。這個措施防止了磁頭與碟片之間發生摩擦撞擊，提高了硬碟的抗震性能。這個參數的數據裡記錄了這一保護裝置動作的次數。（資料整理來源網絡）
我們可以根據軟體檢測出的數據進行對照，就能明白硬碟的狀態是否健康，方便我們進行維護！