對於單個總體均值的檢驗問題，我們在前面的參數檢驗做了介紹，當標準差已知時，我們可以用Z檢驗；當標準差未知時，可以用t檢驗。當然，這兩種檢驗法都必須要求總體分布為正態。如果分布非正態，我們可以用符號檢驗的方法。但是符號檢驗法太粗糙，這一點我們在前面也強調過，非常容易犯第二類錯誤，也就時說，即使明明已有顯著差異，仍然不能拒絕原假設。
下面要介紹的這個方法，就彌補了符號檢驗的缺點，它的檢驗精度要顯著優於符號檢驗。這個方法適用於單個總體的中位數檢驗，也適用於配對檢驗，因為成對或相匹配的觀測值間的差異提供了兩個總體間差異的信息，最終，轉化為單總體均值是否為0的檢驗。
這個檢驗的名稱叫威爾科克森符號秩檢驗。下面我們還是以一個實例，來介紹這個方法；
計算符號秩；
按如圖所示的方法計算符號秩。
計算符號：將實際產量高於目標產量的天標為「+」，低於目標產量的天標為「-」；計算差值：將實際產量與目標產量求差值；計算絕對值的序：將觀測值的絕對值由小到大編序，即為符號秩；需要注意，當觀測值一致時，符號秩為相應符號的平均值。在本例中，從序數3到序數6的觀測值的絕對值都為「3」，因此，絕對值為「3」的秩為（3+4+5+6）/4 = 4.5。查表；
符號秩求出後，需要將「-」號對應的秩求和。本例中，「-」號對應的秩和為12。查表得此條件下的拒絕域下限為16；因此拒絕原假設。認為產量超出35臺每天。
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