我們分析一下I/O電纜是怎樣影響設備電磁兼容性的。
首先，看一下對輻射發射RE的影響。
I/O電纜產生的電磁輻射主要源於電纜上的共模電流，共模電流產生共模電壓。共模電壓來源於兩個方面：
第一個方面，印製電路板PCB地線上的噪聲電壓，當PCB連接了I/O電纜時，這種地線噪聲電壓就是一種共模電壓V1。
第二個方面，設備內部的騷擾源通過空間耦合，在I/O電纜上產生感應電壓，這就是共模電壓V2。
在這兩個電壓的驅動下，形成了共模電流，如圖中的輻射發射RE共模迴路所示。
我們再看一下對輻射敏感RS的影響。
外部騷擾源（電磁波，或者直接通過電場/磁場注入）在I/O電纜產生了共模電壓Vs。Vs產生了共模電流，共模電流的路徑如圖中的輻射敏感RS共模迴路所示。
這個共模電流產生兩種危害。
一種是在印製電路板PCB的地線上產生噪聲電壓V2。這種噪聲電壓對於以地線電位為參考電位的敏感電路而言，顯然是一種幹擾。
另一種是通過空間耦合的方式，對敏感電路形成電磁幹擾。