低電壓檢測IC的復位電路

2020-12-08 電子產品世界

低電壓檢測IC的復位電路

• 當內建的低電壓復位電路的電壓與應用規格不同時，可選用外部低電壓檢測IC 的復位電路。
• 可提供低電壓復位功能，需配合外部簡易型RC 復位電路或高抗幹擾RC 復位電路來達到完整的復位功能。
• RRES、CRES、RN 和CN 的建議數值與簡易型RC 復位電路及高抗幹擾RC 復位電路相同。
• CRES(針對簡易型RC 復位電路)和CN(針對高抗幹擾RC 復位電路)在PCB 板上的位置及布線要求與簡易型RC復位電路及高抗幹擾RC 復位電路相同。

內部POR 電路和內部低電壓復位電路
• 為加強MCU 的保護完整性，並簡化外部應用電路設計及成本，在MCU 內部提供有上電復位(POR)電路和低電壓復位(LVR)電路。
• POR 電路主要是內建一組低RC 時間常數的復位電路，具有上電時產生復位的功能。其對MCU 內部的初始化動作，除了TO 和PDF 旗標被清為「0」之外，其餘的狀態均與RES 復位相同。當使用此復位功能時，因POR 時間常數較小，為了使POR 可以正常動作，電源上升速度應儘量要求快速。
• LVR 電路主要功能是當VDD 小於特定電壓(視規格而定)，且持續時間大於1ms 時，LVR 將會被激活，其對MCU 內部的初始化動作與RES 復位相同

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