2018/12/28 作者/EWG1990儀器學習網
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原子吸收法中遇到的幹擾初步歸納起來有：化學幹擾、電離幹擾、光譜幹擾、物理幹擾、背景吸收幹擾幾種類型。
一、化學幹擾
待測元素與其他組分之間的化學作用引起的幹擾效應即為化學幹擾。例如，待測元素與些物質形成高熔點、難揮發、難離解的化合物，導致吸光度下降，甚至使測定不能進行。主要來自陽離子和陰離子幹擾，陽離子往往在一定溫度下，生成難熔混晶體或形成難原子化的化合物（或氧化物），如Ti、Al、Si對Ca、Mg、Sr、Ba產生影響，這些元素與Ca可能生成 CaSiO3、CaTiO3、CaAlO3等難熔混晶體B、Be、Cr、Fe、Mo、V、W和部分稀土元素易與待測元素形成不易揮發的混合氧化物，使吸收降低，產生負千擾。也有的產生增感效應現象，例如Mn、Fe、Co、Ni對Al、Cr有正幹擾。
陰離子的幹擾比陽離子複雜得多，往往與待測元素生成難離解高熔點化合物，例如PO43-、SO42-等與Ba生成Ba3（PO4)2、BaSO4等，對被測元素幹擾順序如下：PO43-＞SO42-＞Cl-＞NO3-＞CIO3-。
化學幹擾主要影響待測元素的原子化效率，是原子吸收光譜法幹擾的主要來源。幹擾的特點具有選擇性，它對試液中各元素的影響是不同的，並隨火焰強度、狀態及部位，其他組分的存在、霧滴大小等條件而變化。根據具體情況加入某些試劑，是抑制化學幹擾的常用方法消除化學幹擾的方法有以下幾種：
（1）加入釋放劑
加入一種金屬元素與幹擾物質化合成更穩定或更難揮發的化合物，從而使持測元素釋放出來，以抑制化學幹擾。這種加入的金屬元素稱為釋放劑。如試樣中PO43-存在時對鈣的測定有嚴重幹擾，是由於生成難揮發、難離解的焦磷酸鈣。如果向試樣中加入足量的氯化鑭（LaCl3），由於PO43-生成更難離解的磷酸鑭，使鈣仍以氯化物的形式進入火焰進行原子化。
（2）加入保護劑
加入的保護劑多為有機配位劑，它們可以與待測金屬元素生成穩定的更易於原子化的配合物，從而保護了待測元素，消除了部分幹擾。保護劑一般是有機配合劑，如EDTA、8-羥基啉，例如，在一定條件下向試液中加入EDTA，與鈣形成穩定的Ca-EDTA，能防止鈣與PO43-生成難離解的焦磷酸鈣。
（3）加入緩衝劑
即加入大量過量的幹擾元素使幹擾達到飽和並趨於穩定，這種含有大量元素的試劑稱為緩衝劑。如果在標準溶液和試液中加入同量的緩衝劑，則幹擾可抵消。例如，當標準溶液和試液中加入的鋁鹽為200μg/mL時，可以消除鋁對鈦測定的影響，但靈敏度有損失。
（4）加入基體改進劑
對於石墨爐原子化法，在試樣中加入基體改進劑Ni(NO3)2、Mg(NO3)2、PdCl2、NH4H2PO4等，使其在乾燥或灰化階段與試樣發生化學變化，其結果可以增加基體的揮發性或改變被測元素的揮發性，以消除幹擾。
（5）使氧化物還原
用還原性強的富燃焰和石墨爐原子化器，使難離解的氧化物還原分解，如測鉻時，用空氣-乙炔富燃火焰，發生如下反應：
CrO＋C-＞Cr＋Co
（6）選擇合適的原子化方法
提高原子化溫度，減小化學幹擾。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度，可使難離解的化合物分解。採用還原性強的火焰與石墨爐原子化法，可使難離解的氧化物還原、分解。
（7）預先分離
可通過萃取、離子交換、共沉澱、富集、電解等方法，除去幹擾物質。
（8）採用標準加入法
當試樣存在大量基體或基體含量不明情況下，採用此方法較好，它可以消除化學幹擾和物理幹擾、基體幹擾等。但必須注意：
①不能消除背景和光譜幹擾；
②取標準點一般5個點（實用中不能少於3個點）；
③校準曲線必須在線性範圍內，吸光度值最好應在0.100～0.200範圍；
④標準加入法由於工作量大，不太適合大批量樣品分析測定。
石墨原子吸收分析的化學幹擾其實質和火焰中一樣，是分析元素與某共存物形成了化合物。這種化學反應有的在室溫時就已發生，有的在升溫時發生，引起化學幹擾者除共存元素外，還有石墨爐本身，這是火焰法中不存在的，高溫石墨爐中的化學幹擾來自碳、氯化物，從而產生幹擾。為消除化學幹擾主要採用基體改進、平臺原子化，塗層石墨管等技術。
由於加入一種試劑抑制幹擾的方法簡單有效因而得到普遍採用。已用作消除化學幹擾的一些試劑擾的一些試劑列於表1。
表1 用於抑制幹擾的一些試劑
二、電離幹擾
在高溫時，原子失去電子形成離子，使基態原子數目降低，吸光度下降，這種幹擾稱為電離幹擾。
由於某些易電離的元素在火焰中發生電離，減少了參與原子吸收的基態原子數；反之，若火焰中存在能提供自由電子的其他易電離的元素，則使已電離的原子回到基態，使參與原子吸收的基態原子數增加。因此電離幹擾對測定結果的影響有正負之分。原子在火焰中的電離度與火焰溫度和電離電位的關係用Saha公式表示：
式中，X為電離度；ρ為火焰氣體中金屬氣體的分壓；Vt為金屬原子的電離電位；T為熱力學溫度；B為常數。由此可知火焰溫度越高，元素的電離電位越低，電離度越大。電離幹擾主要發生於電離電位較低的元素，如測定鹼金屬，使用高溫火焰（如N2O-乙炔火焰）時，鹼金屬和稀土元素也有顯著電離。
某一元素的電離還與溶液的組成和它本身的濃度有關。原子在火焰中的電離可表示為
達平衡時
電離度定義為已電離的金屬正離子的濃度與該金屬的總濃度之比，即
。如火焰中只存在一種可電離的元素，則[M]=[e]於是有：
可見元素在火焰中的電離度與電離平衡常數K及原子在火焰中的總濃度有關。
鹼金屬、鹼土金屬和部分稀土元素，在常用的幾種火焰中的電離度如表2所示。
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表2 部分金屬元素在常用的幾種火焰中的電離度
電離幹擾可用控制火焰溫度的方法使原子的電離減少，但最有效的方法是加入消電離劑，消電離劑是比被測元素電離電位低的元素，相同條件下消電離劑首先電離，產生大量的電子，抑制被測元素的電離，如鹼金屬、鹼土金屬。當有大量的比待測元素更易電離的第二種元素存在時，可以抑制被測元素的電離這種加入的大量更易電離的非待測元素叫作消電離劑。常用的消電離劑有CsCl、NaCl和KCl等。有時加入的消電離劑的電離電位比待測元素的電離電位要高，但由於加入的濃度較大，仍可抑制電離幹擾。但消電離劑的濃度不能太大，否則會產生基體效應或容易堵塞燃燒器縫口。
某些金屬在N2O-乙炔火焰中的電離度及要完全消除電離幹擾所需加入銫的量如表3所示。
表3 某些金屬在N2O-乙炔火焰中的電離幹擾及其消除
①I*為加入Cs後的強度；I為未加入Cs時的強度。
三、光譜幹擾
光譜幹擾主要來自吸收線重疊幹擾，以及在光譜通帶內多於一條吸收線和在光譜通帶內存在光源發射的非吸收線等。
（1）吸收線重疊幹擾
原子吸收光譜分析中吸收線重疊幹擾比發射光譜要小得多。當被測元素中含有吸收線重疊的兩種元素時，無論測定哪一種元素都將產生幹擾，Co 253.649nm對Hg 253.652mm的幹擾是典型的吸收線重疊幹擾的例子。幹擾大小取決於吸收線重疊程度，當兩元素吸收線的波長差等於或小於0.03nm時，認為吸收線重疊幹擾是嚴重的。若當重疊的吸收線都是靈敏線時。即使相差0.1nm，也明顯顯示出幹擾。表4中列出了實際觀察到的和理論上分析的吸收線相差0.03nm以下的可能發生吸收線重疊幹擾的譜線。
表4 光譜幹擾線
①是文獻上已觀察到的千擾譜線，其餘為理論上的幹擾譜線。由於後者的靈敏度低或在測定條件下原子化效率低，故在通常測定中不表現幹擾。
為排除這種幹擾，一是選用被測元素的其他分析線，二是預先分離幹擾元素。也可以利用這種現象測定高含量元素，而避免高倍稀釋引入的誤差。如已報導了利用Ge 422.657m與Ca 422.673nm的重疊，用Ge燈作為光源測定高含量的鈣。光譜重疊線的應用列於表5。
表5 火焰原子吸收光譜中譜線重疊的實例
①共振線。
②檢出限。
註：1.表中的靈敏度定義為在特徵波長處產生的0.0044吸光度所需要的濃度（μg/mL）。
2.除了標有EDL（無極放電燈）外，其他均為空心陰極燈作光源。
在理想情況下，光譜通帶內只存在一條吸收線。如果光譜通帶內有幾條吸收線，都參與吸收，例如在錳的最靈敏吸收線279.5nm近旁還有279.8nm和280.1nm兩條靈敏度低的吸收線，當光譜通帶為0.7nm時，它們也進入通帶內，由於多重線各組分的吸收係數不一樣，因此工作曲線為非線性的。而且，由於多重線其他組分的吸收係數小於主吸收線的吸收係數，故測定靈敏度降低。上述幹擾的消除可通過減小狹縫寬度的辦法，但當兩者的波長相差很小時，減小狹縫仍難消除，並使信噪比大大降低。
在光譜通帶內存在光源發射的非吸收線。若它與分析用的譜線不能完全分開則產生幹擾。造成這種幹擾的原因有：
①具有複雜光譜的元素本身就發射出單色儀不能完全分開的譜線，如鐵、鈷、鎳等；
②使用多元素空心陰極燈時，其他元素可能在分析線近旁發射出單色儀不能完全分開的譜線；
③陰極材料中的雜質或充入的惰性氣體產生的非吸收線所引起的幹擾。
表6列出了由各種元素的空心陰極燈發射的氖譜線所引起的幹擾。表7列出了要想把分析線與光源內可能產生的幹擾譜線分開所必須採用的光譜通帶。
表6 必須分辨開的臨近氖譜線
表7 光源內的幹擾譜線和需用通帶
①光譜重疊
消除這種幹擾常用方法是減小狹縫寬度，使光譜通帶小到足以分離掉非吸收線：亦可用另外的吸收線。如Co 240.725nm比252.136nm靈敏，但前者只允許用0.2nm的通帶，面後者可允許用0.65nm的通帶，信噪比比前者好。
（2）與光源發射有關的非吸收線幹擾
原子吸收中使用空心陰極燈，它除了發射很元素共振譜線外，往往還發射其他譜線，如Ni空心陰極燈，在分析用的232.0mm譜線還發射231.6nm譜線，兩者僅差0.4nm，若使用Inm的單色器通帶，則有可能使校準曲線向濃度軸，使測定靈敏度下降擾。此外，空心陰極燈內的雜質會使燈產生連續背景，使測量靈敏度下降，可以通過在空心陰極燈上反向加電壓處理而得到克服。
（3）與原子化有關的光譜幹擾
對於火焰原子化器，火焰發射的連續光譜會干擾測定通過單色器可以將大部分的連續光譜分離掉，但單色器通帶區域內仍然有火焰輻射通過，可以對燈的發射譜線進行調製，將火焰的直流信號分離掉。
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