安東帕中國攜全新納米顆粒及Zeta電位分析儀亮相上海CPhI

2020-12-05 儀器信息網

　　第十六屆世界製藥原料中國展(CPhI China 2016)於2016年6月21至23日在上海新國際博覽中心拉開帷幕。展會期間，安東帕中國不僅展出了旋光儀、折光儀、密度計、微量粘度計、流變儀、微波樣品製備系統等傳統的拳頭產品，也將LitesizerTM500納米顆粒及Zeta電位分析儀這個全新產品帶到廣大製藥領域用戶面前。

　　LitesizerTM500納米顆粒及Zeta電位分析儀

　　2016年，安東帕LitesizerTM500納米顆粒及Zeta電位分析儀全新上市。這是一款用於表徵溶液中分散的納米顆粒以及亞微米顆粒的儀器。它可通過測量動態光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態光散射(SLS)來測定顆粒尺寸、zeta 電位和分子量。它採用了先進算法及尖端zeta電位測量專利技術：可連續測量透光率以選擇最佳樣品測試參數; 靜態光散射(SLS)測量分子量，快速無損;採用DLS顆粒分析法，可輕鬆解決在單一懸浮液中不同顆粒尺寸的測量問題;採用新型專利(歐洲專利 2735870)cmPALS技術，zeta電位測量的準確性達到最高，所需時間降到最少;而且其一頁式的工作流程，大大減輕了實驗室負擔。另外，LitesizerTM500的一大亮點是其簡單而巧妙的軟體。安東帕已創建了可將輸入參數、結果和分析集中到單個頁面上的一頁式工作流程：用戶可以在數秒內完成試驗設置，只需簡單按鍵即可得出所需的分析結果和報告。

　　這款全新產品可廣泛應用於製藥、化工、材料及食品各行業內實驗室質量控制、質量控制部門以及其他粒度分析領域。

　　展會同期，安東帕還在Innolab的主題活動上舉辦了LitesizerTM500納米顆粒及Zeta電位分析儀的產品宣講會，為大家呈現了雷射粒度儀的用途、優勢、參數以及應用。

　　宣講會現場

　　自2006年起的十年來，安東帕中國致力於為中國製藥行業的用戶量身定製高質量的產品及服務，以確保藥品的質量和可追溯性。上海CPhI展會期間，安東帕提供了全面的藥物分析解決方案及組合方案，吸引眾多用戶參觀。

　　安東帕展位

　　安東帕參展團隊


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