大電流彈片微針模組是深圳凱智通研發出的一款新型產品，與傳統的探針模組一樣都是應用於電子測試中測試PCBA的一種測試連接電子元件。在測試治具中，微針模組和探針模組作為一種媒介，能起到導通電流和傳送信號的作用，多用於3C鋰電池、手機LCD、OLED屏幕、攝像頭、可穿戴智能設備等電子產品的測試中。
作為電子產品測試的橋梁，微針模組和探針模組的使用壽命是至關重要的，這關乎著產品的測試效率和測試進度，以及企業對生產成本的調度。經過測試，凱智通大電流彈片微針模組的平均使用壽命在20w次以上，但是在操作、環境以及保養都非常好的情況下能達到50w次。而傳統的探針模組的使用壽命在5w次左右。影響測試模組使用壽命的相關因素包含了測試環境、結構和應對方法。
從這幾個方面分析微針模組和探針模組或許可以得出兩者之間使用壽命的差異及性能的優劣。
1. 測試環境：
測試針的使用壽命通常跟測試環境有很大關係，如果測試時環境太差，探針模組的針管就會有雜質進入，對彈簧造成損壞，而無法連接，這樣就必須要對探針進行更換和維護。
微針模組的頭型有自清潔能力，無需人力維護，在複雜的測試環境下也能保持長期的穩定性，因此無需經常更換，使用壽命更長。
2. 結構：
探針模組的外形結構是由針頭、針管、針尾製成的，內置彈簧，組件多，結構複雜，表面覆蓋的鍍金厚度很難控制。測試中可能會出現卡pin、斷針的情況。
微針模組是一體成型的彈片結構，採用鎳合金/鈹銅材料，後期加硬鍍金處理，通過雷射設備採用特殊工藝製成。彈片堅韌不易折斷，還能按照客戶的要求定製。
3. 應對方法
無法滿足測試需求或是使用不恰當也會影響測試模組的壽命，拿探針模組來說，在使用時對探針頭部的下壓力度、深度不恰當的話，極易損耗探針的彈簧。電流傳輸時，探針模組能通過的額定電流為1A，無法通過大電流測試，若是加大探針尺寸來達到相應的電流，就會出現卡pin、斷針的現象，影響探針使用壽命，還會拖慢測試進度。
微針模組在大電流測試中能通過高達50A的電流，在同一材料體內電流傳輸穩定，連接功能強，無不良反應。彈片後期經過加硬鍍金的處理，有利於增強導電性能，提高使用壽命。另外，微針模組還有不同的頭型分別應對BTB連接器公母座測試，使連接更穩定。
從以上幾個方面的分析對比來看，凱智通大電流彈片微針模組不只在使用壽命方面比探針模組高出整整四倍，在測試環境、性能、連接的穩定性和大電流傳輸等方面也遠遠超過探針模組！在3C鋰電池、手機LCD、OLED屏幕、攝像頭、可穿戴智能設備等電子產品的測試中具備更好的條件，且成本不高，非常值得選擇。