北京斯洛瑪格技術有限公司採購Bruker ContourGT-K三維光學顯微鏡

提供最全面的表面測量與成像技術

性能卓越、操作簡便的桌上型三維光學顯微鏡

ContourGT-K三維光學顯微鏡完善了表面測量和分析的新標準，這套測量系統擁有工業領先的測量性能和靈活性，採用專利白光幹涉技術，超大視野內埃級至毫米級的垂直計量範圍，具有業界最高的垂直解析度和測量重複性。

憑藉其獨特的直觀用戶界面和功能最全的自動化檢測、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，廣泛應用於LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、精密機械零部件、摩擦磨損等各個領域，滿足各種表面測量的實際需求。

ContourGT-K三維光學顯微鏡集三十年表面測量技術之大成，將創新技術與業界測量經驗完美融合到一套非接觸式表面測量系統上，憑藉低噪音、高速度、高分辨精確測量，滿足各類測試需求。任意選擇不同的放大倍率，在極寬的測量範圍內，對樣品表面形狀和紋理進行表徵，在任何倍率下，從亞納米級到超過10毫米級垂直測量量程提供了無與倫比的測量靈活性，是當今生產研究和質量控制檢測的最佳選擇。

提高表面測量和分析速度

ContourGT-K測試系統上，用戶可自定義分析選項，多核處理器和Vision64^®軟體將數據處理、分析速度提高十倍，大大提高測試效率。同時完善了軟體和硬體功能，人性化的工作流程、頂尖的光學測試系統、高性價比的檢測平臺，使其成為桌上型三維光學顯微鏡的最佳選擇。除了標準配置的各種檢測功能，客戶還可以自定義測試方案，選擇各類各級配件或特殊測試模塊：

• 全自動X、Y、Z樣品臺

• Nanolens^TM AFM模塊

• 特殊應用測試軟體

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