摘要:為了能精確地自動測量He-Ne雷射波長和透明薄膜厚度,採用單片機驅動步進電機帶動麥可幹涉儀的微調手輪轉動,使光屏上產生穩定變化的幹涉條紋,用光電二極體檢測條紋信號光強變化,通過光電轉換電路將光信號轉變為電信號,輸入到單片機進行處理,測量結果自動顯示在液晶屏上。在一般實驗環境下進行了多次實驗,將實驗結果與標準值進行比較得出,改造後的儀器測量微小長度速度快,誤差小,精確度高。
關鍵詞:單片機;步進電機;麥可遜幹涉儀;微小長度測量;薄膜厚度測量
0 引言
薄膜厚度是薄膜性能參數的重要指標,如何準確、快速、方便地測量膜厚在實驗中具有十分重要的意義。麥可遜幹涉儀測量雷射波長是大學物理實驗中重要的一部分,實驗時實驗者手動調節微調手輪,人眼觀察幹涉條紋,帶來很多人為誤差,影響測量結果。為了保護實驗者視力,提高測量精度,擴大測量範圍,同時促進光學教學實驗儀器的發展,在研究單片機的基礎上,對麥可遜幹涉儀進行了探索和改造。
改造後的麥可遜幹涉儀在不改變物理學基本原理的基礎上,增加了電子技術中的大量元素,使物理學和電子技術很好地結合起來,實現了對雷射波長和薄膜厚度的自動測量。測量簡便、精確度高,有一定的實用性。
1 系統工作原理
基於單片機改造的麥可幹涉儀進行微小長度的自動測量,測量對象為雷射波長和薄膜厚度,系統工作原理如圖1所示。
1.1 雷射波長測量
使用He-Ne雷射作光源,利用光的分振幅幹涉法。用步進電機帶動微調手輪轉動代替手動調節,電機旋轉角度對應光程差為2△d;光屏上得到的「吞」、「吐」條紋,通過光電轉換電路轉換為脈衝信號,輸入到單片機進行計數(條紋數N),代替了人眼觀察條紋計數;測量步驟、結果(波長λ=2△d/N)及相對誤差通過液晶屏顯示,從而實現波長自動測量。
1.2 薄膜厚度測量
使用白光作光源,利用等厚幹涉法。光路原理圖如圖2所示,當白光光程差為零時發生幹涉現象,將光屏上的彩色條紋通過光電轉換電路轉換為脈衝信號,同時記錄M1的初位置d1;放入薄膜後,光程差增大,彩色條紋消失;電機帶動M1移動到彩紋再現,記錄M1的末位置d2。用阿貝折射儀測出薄膜折射率n,輸入到單片機,根據公式進行處理,即可得到薄膜厚度。
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