TFT-LCD驅動晶片測試平臺的設計和實現

2020-11-25 電子產品世界

1 引言

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/86532.htm

  近年來,隨著手機和MP4等視頻播放器等產品數量迅猛增長,據估計,今年手機的產量就達到10億臺,競爭趨於白熱化。對於屏幕顯示效果,消費者也提出了更高的要求。顯示效果很大的部分取決於驅動IC的質量。顯示屏驅動IC成了很多廠家爭奪的焦點。目前國內就有超過二十家的設計公司從事小屏幕顯示屏驅動IC的設計。在每一款的IC量產之前,必須經過反覆的調試,以保證各項設置符合設計的要求,並且達到較好的顯示效果。設計高速度,調試方便,並且美觀的測試平臺可以方便的調試出較好的效果,減少調試時間,而且可以給客戶耳目一新的感覺,提高產品競爭力度。本論文是針對Focaltech-systems公司開發的TFT_LCD驅動晶片FT1505設計的測試平臺。採用的C8051F130是一款由Cygnal公司新推出的高性能高速單片機,具有高速、流水線結構的8051兼容的CIP-51內核,執行指令最快速度可達100 MIPS,與8051系列比較增加了很多資源,他在片內集成了構成一個單片機數據採樣或控制系統所需的幾乎所有模擬和數字外設以及其他功能部件。符合搭建平臺的要求。在2007深圳舉行的CHINA IC上,展示了用此平臺驅動的模組,吸引了很多客戶和參觀者的眼球,達到非常好的效果。

2 系統硬體電路設計

  系統硬體電路主要包括各種電源/升壓電路,MCU,片外FLASH,驅動IC,高速USB下載口周邊電路和之間的接口電路。整個系統架構圖1。

 

  (1)電源/升壓電路

  電源電路主要由APW7080提供5V電壓和APL1117提供3.3V電壓。升壓電路主要由DS9197構成。可以調節變阻器提供1.5~4.5V電壓。

  (2)MCU周邊電路和其他部分接口電路(圖2)

 

  MCU的P0接FLASH的8位數據總線,P1,P2,P3接FLASH,驅動IC的地址總線。P6口接FLASH和驅動IC的控制信號線。flash_nce,flash_nwe,flash_noe分別是FLASH的片選,寫,讀控制信號,高電平有效。TFT_IM3~TFT_IMO是驅動IC的讀數據接口選擇。選1100時是8位接口,選1101時是16位接口。TFT_ncs, TFT_RS,TFT_nwr,TFT_RD,TFT_nRST分別是驅動IC的片選,寄存器選擇,寫,讀及硬體復位的控制信號線,控制驅動IC的時序。MCU通過TMS,TCK,TDI,TDO四個引腳與高速USB下載口相連,可以從系統外下載圖片等數據到FLASH。

  (3)FLASH,驅動IC周邊電路及接口電路(圖3,圖4)

  Addr0~Addr20是合用的顯示數據,地址總線,DATA0~DATA7是FLASH的存儲數據的地址總線。RS,CS,WR,RD,RST是時序控制線,通過軟體的控制來實現從FLASH和單片機內存中取出數據,傳送到IC的數據接口,實現IC的正常工作。

 



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