ADI推出模擬前端ADA4350,在單個封裝中集成FET輸入放大器

2020-12-08 電子發燒友

ADI推出模擬前端ADA4350，在單個封裝中集成FET輸入放大器

工程師青青 發表於 2018-09-11 16:34:00

Analog Devices， Inc. （ADI）推出集成ADC驅動器的FET輸入AFE（模擬前端）ADA4350，用於與電流模式傳感器（如光電二極體）和高輸出阻抗電壓傳感器直接接口。ADA4350在單個封裝中集成FET輸入放大器、開關網絡和ADC驅動器，相比分立方案，它可以簡化設計，降低功耗，PCB尺寸縮小50%以上。

ADA4350在低頻時的噪聲很低，10 Hz時噪聲為90 nV/√Hz，100 kHz時的寬帶噪聲為5 nV/√Hz，傳感器輸出的信噪比得以最大化。集成增益開關支持寬動態範圍測量，可測量光子或電子等非常小的敏感信號。利用ADA4350的片內編程能力，設計人員可以選擇優化的外部反饋元件。只需一個晶片，便可將單端或差分傳感器電流或電壓信號轉換為高速、低噪聲、單端或差分輸出電壓。

在分析測量應用中，可能需要監控強度範圍達數十dB的光信號。這就需要多種增益切換網絡，它們常常包含多個外部放大器和模擬開關，導致系統出現誤差的可能性加大。ADA4350集成了開關網絡和輸入放大器，漏電流極小，並且允許開關網絡最多選擇六個外部可配置的反饋網絡。在測試與測量系統中，無論用戶如何調整儀器的輸入範圍，所有增益水平下都必須保持同樣高的測量精度。ADA4350具有高阻抗/低Ib輸入放大器和串行埠控制的開關網絡，因而非常適合測量較寬動態範圍的信號。該器件還能縮小PCB尺寸，同時大幅增加通道數，而不會產生熱密度限制問題。

ADA4350 FET輸入AFE特性

• 低噪聲、低輸入偏置電流FET輸入放大器

o 90 nV/√Hz （10 Hz）

o 5 nV/√Hz （100 Hz）

• 集成增益開關

o 開關漏電流：± 1 pA（典型值）

• 集成ADC驅動器

o 差分和單端模式

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