泰克示波器應用|輕鬆解決DDR內存系統測試難題

2020-12-01 電子工程網

泰克示波器應用|輕鬆解決DDR內存系統測試難題

2020年11月26日 16:13

DDR應用現狀:隨著近十年以來智慧型手機、智能電視、AI技術的風起雲湧,人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高,DDR SDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。目前,用於主存的DDR SDRAM系列的晶片已經演進到了DDR5了,但市場上對經典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。測試痛點:測試和驗證電子設備中的DDR內存,客戶一般面臨三大難題:1.如何連接DDR內存管腳;2.如何探測和驗證突發的讀寫脈衝信號;3.配置測試系統完成DDR內存一致性測試。泰克測試方案:為解決研發人員在DDR內存系統研發、調試和驗證測試的難題,推薦配置基於泰克示波器MSO64B的內存調試及一致性測試系統,主要功能如下:· 完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規範測試的項目· 自動實現突發Write/Read信號分離,可以在同一次採集數據中完成參數測試;· 對控制器端可以自定義修改電平門限,適用不同存儲接口的設計;· 支持CMD總線解碼,更加直觀的反應內存總線讀寫時序;· 同時兼顧標準化測試和單項調試,可以用於產品調試和驗證環節;· 自動生成一致性測試報告,匯總測試數據和關鍵波形截圖· TDP77系列三模探頭,提供DDR測試專用FLEXB柔性連接附件,針對DDR晶片/顆粒狹小空間設計,配合Interposer完成各種類型DDR晶片的信號連接系統中的泰克示波器MSO6B是全新一代高精度/多通道信號採集與分析設備,具有12bits高解析度ADC,uV級的本底噪聲和50Gs/s高採樣率,準確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號FlexChannel技術通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉變為8路數字通道,實現數字通道測試。http://p8.itc.cn/images01/20201126/ee11c1e2dde346aaa560c1f0d2fb4d1d.png方案優勢:使用泰克DDR測試系統,工程師可以享受到如下便利:· 無需參考複雜的JEDEC規範,快速測試關鍵指標系統參數,找到系統潛在風險;泰克提供與JEDEC聯合發布的測試MOI,指導使用者輕鬆完成信號連接、儀器設置與全自動或手動測試。· 通過探頭可以將系統工作時的波形準確的採集下,提供最直接最深入的信號接口時序/幅度信息,無需設置特定的測試場景;· 對特殊場景下DDR/LPDDR的應用提供測試能力,可以確保系統性能的前提下找到晶片工作的極限條件;· 無需人工進行READ/WRITE的區分,全自動軟體判斷,或者通過CMD總線進行聯合調試,發現潛在的時序風險;核心技術指標:1. 模擬通道數:不小於4通道2. 帶寬:不低於8GHz3. 最高採樣率:不小於50Gs/s4. 垂直解析度:不小於12bits(硬體,非軟體實現)5. 數字通道數:可支持32路數字通道6. 本底噪聲 (50Ω阻抗,4GHz,1mV/div,RMS) :不大於100μV7. 可視化觸發:支持20個用戶繪製區域的軟體觸發8. 支持DDR3分析與調試功能,支持用戶定義DDR速率9. 支持自動DDR3一致性測試功能10. 支持limit極限測試,支持用戶自定義極限;支持自定義測試循環次數11. 提供4隻帶寬不小於1GHz,電容不大於4pF無源高阻探頭如需了解泰克示波器更多測試方案歡迎訪問安泰測試網。

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