日立分析儀器發布新款高解析度探測器SDD款XRF鍍層測厚儀X-Strata...

2018年6月19日，英國牛津：日立分析儀器公司（日立分析儀器），是日立高新技術公司（TSE：8036）旗下一家從事分析和測量儀器的製造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高解析度探測器和新型樣品臺配置。

 

日立分析儀器XRF鍍層測厚儀系列在電子和金屬表面處理行業已有超過40年鍍層分析的成功經驗。X-Strata920可確保鍍層符合規格要求，並將鍍層過量或過少鍍層廢料造成的浪費減至最少。隨著X-Strata功能的擴展，用戶可以通過該儀器進行更多工作。

 

這一款新型X-Strata意味著可選擇高解析度矽漂移探測器（SDD）或正比計數器定製儀器，以優化其性能。此外，它現在擁有四個腔室和基座配置，可處理各種形狀和尺寸的樣品，包括汽車行業中的複雜幾何形狀。

 

對於複雜的鍍層結構，SDD可以提供優於正比計數器的優勢，因為它更易分析具有類似XRF特徵的元素，例如鎳和銅。這擴大了可以用於分析的元素範圍，包括磷 — 對於化學鍍鎳分析非常關鍵，並且可以更精確地測量較薄鍍層，例如符合IPC-4552A的納米範圍的金。

 

日立分析儀器產品業務發展經理Matt KREINER表示：「X-Strata920以及日立分析儀器產品系列的其他XRF儀器因其未來前景、可靠性和易用性而聞名。SDD的加入以及多種配置選擇能提高我們客戶的分析能力和靈活性，以測量大量零件的複雜鍍層。我們保留了高度直觀的SmartLink軟體，因此任何操作員（無論經驗水平如何）都能夠快速學會使用儀器並獲得準確可靠的結果。我們的鍍層產品，包括高級FT150微焦斑鍍層測厚儀、手持式XRF光譜儀以及可進行快速可攜式分析的CMI系列，40多年來在鍍層測量領域一直深受信賴，我們很高興能夠提供這些改進成果。」

版權與免責聲明：

① 凡本網註明"來源：儀器信息網"的所有作品，版權均屬於儀器信息網，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。已獲本網授權的作品，應在授權範圍內使用，並註明"來源：儀器信息網"。違者本網將追究相關法律責任。

② 本網凡註明"來源：xxx（非本網）"的作品，均轉載自其它媒體，轉載目的在於傳遞更多信息，並不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，且不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。如其他媒體、網站或個人從本網下載使用，必須保留本網註明的"稿件來源"，並自負版權等法律責任。

③ 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起兩周內與本網聯繫，否則視為默認儀器信息網有權轉載。