NI半導體測試方案助力IC設計

2020-11-30 電子發燒友

NI半導體測試方案助力IC設計

發表於 2018-11-30 15:55:32

許多半導體的檢驗與特性實驗室．都依賴機架堆疊儀器搭配大量的手動測試程序，而生產測試單位則使用完整、高效能的昂貴自動化測試設備 ATE 來完成。從實驗室到產線所採用的測試方法不同．很難能夠進行很好的關聯（ correlation ) ，使得整體的測試成本難以降低。因此最佳的系統優化應透過通用的統一的測試平臺，可因應設計檢驗到生產測試而隨時調整、讓設計與測試部門可輕鬆共用資料、以現有的半導體技術搭配最新功能，進而降低成本。

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NI 覆蓋實驗室特徵分析、晶圓測試（ WAT , CP ，晶圓可靠性測試等）、 FT 測試以及 SLT 系統級測試的方案，不論是設計驗證、晶圓製造、封裝過程中或是封裝完成．針對 RFIC 、混合信號晶片、甚至最新 3DIC 和系統級封裝（ SIP ) 等不同測試類型和趨勢， Nl 通過統一的平臺和業界領先的儀器技術助您提高測試速度、降低成本。

1

實驗室特徵分析

Nl 平臺具有最佳實驗室交互體驗幫助快速調試、分析，並與自動化測試無縫對接。‍

2

SLT 系統級測試

通過系統協議級通信、異步並行測試、可擴展的模塊化平臺減低系統級測試時間和成本。‍

3

晶圓測試

NI fA 級高性能源測量單元大幅提升晶圓測試通道密度及並行性、降低系統體積。  ‍

4

FT 測試

NI 平臺利用原有開放性和靈活性，與生產環境要求對接．高吞吐量測試特性提升測試效率、減低測試時間。‍

NI半導體測試系統：STS

NI 的半導體測試系統（ Semiconductor Test System ，筒稱 STS ）提供了可快速部署到生產的測試系統，適用於半導體生產側試環境此外． PXI 平臺開放式與模塊化的設計，使您可以獲得更強大的計算能力及更豐富的儀器諮源．進一步提升半導體測試效率，降低測試成本

強大的軟體工具用來開發、調試和部署測試程序

NI 半導體模塊可幫助測試工程師開發、調試、優化、部署和維護半導體測試系統。藉助這款針對行業標準 Test 一 stand 環境的附加模塊，半導體測試工程師將可獲得一流的測試程序開發和調試環境。‍

適用於主流半導體製造環境

Nl STS 適用於主流半導體製造環境，比如分選機（ Handler ) /探針（ prober ）集成、標準 Docking （包括 Soft Dock / Hard Dock ）、彈黃探針（ Pogo Pin ）連接、 STDF 數據報表生成和系統校準，可輕鬆集成到生產測試設備。

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