課程內容
1、控制圖的基本原理；
2、計量值與計數值控制圖；
3、分析與控制用控制圖；
4、控制圖的應用時機；
5、控制圖的應用步驟
概念介紹
計量值：用各種計量儀器測出、以數值形式表現的測量結果，包括用量儀和檢測裝置測的零件尺寸、長度、形位誤差等, 如電池之壓片厚度, 小片稱重, 卷針直徑等指標.
計數值：通常是指不用儀器即可測出的數據。計件如不合格品數, e.g 裁大片外觀不良數，服從二項分布；計點如電池雷射焊接的氣密性, 短路數等, 服從泊松分布.
計量值：用各種計量儀器測出、以數值形式表現的測量結果，包括用量儀和檢測裝置測的零件尺寸、長度、形位誤差等, 如電池之壓片厚度, 小片稱重, 卷針直徑等指標.
控制圖的基本原理
以3σ原理為基礎：管制圖是以常態分配中的3 σ原理為理論依據，中心線為平均值，上下控制界限為以平均值加減3 σ的值，以判斷過程中是否有問題發生，此即休哈特博士所創的控制方法。
中心極限定理：無論隨機變量的共同分布是什麼（離散分布或連續分布，正態分布或非正態分布），只要獨立分布隨機變量的個數
較大時， 的分布總是正態分布。
控制圖的要素
縱坐標：數據（質量特性值或其統計量）
橫坐標：按時間順序抽樣的樣本編號
上虛線：上控制界限UCL
下虛線：下控制界限LCL
中實線：中心線CL
Remark:
規格線：由客戶或設計部門給出;
控制界線：由過程的實際數據統計計算得出;
一般情況下,控制界限嚴於規格;
控制圖的分類(按數據種類分)
計量值管制圖 (Control Charts forVariables)
–平均值與全距控制圖(X-R Chart)
–平均值標準差控制圖(X-σChart)
–中位數與全距控制圖(X-R Chart)
–個別值與移動全距控制圖(X-MR Chart)
計數值控制圖(ControlCharts for Attribute)
–不良率控制圖(P Chart)
–不良數控制圖(Pn Chart)
–缺點數控制圖(C Chart)
–單位缺點數控制圖(U Chart)
計量值 Vs. 計數值
計數值控制圖 – 亡羊補牢à愈少愈好
計量值控制圖 – 防患未燃à愈多愈好
控制圖的分類(按用途分)
解析用控制圖
–決定過程控制方法用
–過程解析用
–過程能力研究用
–過程管制準備用
控制用控制圖
追查不正常原因
迅速消除此項原因
研究並採取防止此項原因重複發生之措施。
製作分析用控制圖之目的
在控制圖的設計階段使用,主要用以確定合理的控制界限;
每一張控制圖上的控制界限都是由該圖上的數據計算出來;
製作控制用控制圖之目的
控制圖的控制界限由分析階段確定;
使用時只需把採集到的樣本數據或統計量在圖上打點就行;
製作分析控制圖注意點
上下控制限和中心線都是通過抽樣收集過去一段生產穩態下的數據計算出來的；
根據計算結果作成分析用控制圖，並確認是在控制狀態下且過程能力尚可後，方可將其控制限應用在過程控制用控制圖上；
控制圖的應用步驟
1. 選取要控制的質量特性值；
2. 選擇合適的控制圖種類；(均值-極差）
3. 確定樣本組數k，樣本量n和抽樣間隔，一般樣本組數不少於20-25個；
4. 收集生產條件比較穩定和有代表性的一批數據（至少100個以上）；
5. 計算各組樣本統計量，如樣本均值、極差、標準差；
6. 計算各統計量控制界限(LCL,CL,UCL)；
7.畫控制圖；並將計算出的統計量在控制圖上打點；
8.觀察分析控制圖；
9.決定下一步行動。