「複合/納米材料的形貌及粒度表徵」網絡主題研討會
會議時間：2015年12月9日 14:00-17:00
報告日程：
報告一：納米材料的形貌和粒度分析方法及應用
報告人：朱永法
清華大學化學系教授、博導，分析化學研究所副所長,國家電子能譜中心副主任。從事半導體薄膜材料的表面物理化學、納米材料的合成與性能、環境催化以及光催化的研究工作。
報告概要：
主要講述了納米材料最常用的三種形貌分析方法的原理和應用特點以及粒度分析的方法和在納米材料研究方面的應用實例。目前最常用的形貌分析方法是掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡和原子力顯微鏡。掃描電鏡視場廣，樣品製備簡單，不會產生信息失真，可以觀察形貌以及實現顆粒大小的分布統計。透射電鏡可以觀察納米材料的形貌和顆粒大小，但視野範圍小，樣品製備過程容易產生大顆粒的丟失現象，但可以區分聚集態和一次粒子的信息。原子力顯微鏡可以觀察薄膜的顆粒大小，也可以觀察分散態的納米材料的形貌及大小。此外，還可以測量顆粒的厚度以及薄膜的粗糙度分布。雷射粒度儀是測量顆粒大小常用的方法，但無法觀察納米材料的形貌，是一種統計顆粒直徑分布，容易失真。此外，很多納米材料分散在溶液中，可能是水合方式存在，獲得的是水合顆粒大小的分布，並不是真實的材料顆粒大小，但可以獲得粒度分布的信息。此外，通過XRD和拉曼光譜還可以獲得納米材料晶粒大小的數據。
報告二：基於PeakForce Tapping模式的納米材料表徵
報告人： 孫昊
布魯克中國北方區客戶服務主管
報告提綱：
PeakForce Tapping是由Bruker公司發明的一種新的基本成像模式。與傳統的Contact、Tapping模式相比，PeakForce Tapping具有探針-樣品作用力小、能夠自動優化反饋迴路、能夠進行定量力學成像等優點。基於PeakForce Tapping模式，Bruker公司發展了一系列擴展成像技術，如智能成像（ScanAsyst），它可以輕易實現絕大部分常見樣品的掃描參數自動優化，使剛入門的客戶也能非常容易地得到專家級的圖像；定量納米力學成像（PeakForce QNM）可以在掃描形貌的同時實時定量地分析出樣品的模量與粘滯力，為納米力學測量帶來了革新；峰值力表面電勢測量（PFKPFM）與峰值力導電性測量（PFTUNA）使得在軟樣品表面同時的電學和力學測量成為可能。在這個Webinar中，我們將介紹基於PeakForce Tapping的一系列新的成像技術在納米表徵中的應用。
報告三：納米材料的粒度表徵
報告人：方瑛
HORIBA 應用工程師
報告概要：
顆粒的尺寸會影響納米材料的各種性能，而溶液的電位則會影響納米乳液的穩定性。納米顆粒分析儀可以表徵納米顆粒的粒徑和電位，報告會介紹粒徑和Zeta電位的測試原理，重點會介紹顆粒分析在納米材料中的應用。
報告四：尺度表徵用納米標準樣品
報告人：劉忍肖
博士，高級工程師，國家納米科學中心/中科院納米標準與檢測重點實驗室，主要工作領域為納米技術標準化，承擔了十餘項納米技術標準制修訂、納米標準物質/標準樣品的研製工作；從事與納米技術相關的標準化科研工作，參與兩項國家重大科學研究計劃項目和一項質檢公益性行業科研專項，承擔國家自然科學基金和北京市自然科學基金項目。
報告提綱：
納米標準樣品概況；尺度表徵用納米標準樣品；示例：粒度、臺階高度納米標準樣品。
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報名方式：掃描下方二維碼或點擊連結。
儀器信息網「複合/納米材料的形貌及粒度表徵」網絡主題研討會
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