免費講座:XPS在納米材料表徵中的應用,清華大學分析中心表面分析室主任姚文清主講

2021-02-14 材料科學與工程

..

X射線光電子能譜（XPS）是表面分析中的重要分析工具。XPS具有非常靈敏的表面性以及和價態的關係，決定了電子能譜技術在材料科學、物理學、化學、半導體以及環境等領域有著重要的應用價值。XPS技術主要用於表徵納米材料表面的化學組分、原子排列以及電子狀態等信息。利用X射線光電子能譜（XPS）對表面元素做出一次性的定性和定量分析，並通過離子束濺射獲得元素深度的化學成分分布信息，利用高空間解析度進行微區選點分析、線掃描分析以及元素麵分布分析。電子能譜技術是應用於微電子器件、催化劑、材料保護、表面改性以及功能薄膜材料等方面表面分析和價態分析的重要分析方法。本報告主要介紹XPS在納米材料表界面研究中的應用。

本報告主要介紹XPS在納米材料表界面研究中的應用。

姚文清，高級工程師。國家電子能譜中心副主任，清華大學分析中心表面分析室主任。

自1995年以來，一直從事表面化學分析方法學研究和分析儀器研製。先後主持承擔科技部創新方法專項、國標委標準制定專項、國家基金委面上基金等項目多項。完成制定俄歇電子能譜儀、X射線光電子能譜儀的分析方法國際標準1項、國家標準12項，國家發明專利授權和申請5項。發表SCI收錄論文90餘篇，論著2部。研究成果：獲得國家自然科學獎二等獎1項，教育部自然科學獎一等獎2項、二等獎1項，教育部科學技術進步獎（基礎類）二等獎1項。

學術兼職：國際標準化委員會表面化學分析分委員會委員，全國微束分析標準化委員會表面化學分析分技術委員會副主任,高校分析測試中心研究會副秘書長，北京理化分析測試協會表面分析技術委員會副理事長，中國感光學會光催化專業委員會委員，東北大學秦皇島分校兼職教授。

2017年10月17日    今天晚上19:30  線上講座

後臺回復 講座

（長按識別下方二維碼）

即可進入報名頁面

— END —

....


點擊閱讀原文，加入討論交流合作

相關焦點

  • 淺談納米材料的表徵與測試方法
    納米材料被譽為「21 世紀最重要的戰略性高技術材料之一」。隨著應用領域的擴大和增強，近年來，納米材料的毒性與安全性也受到廣泛關注。表徵與測試技術是科學鑑別納米材料、認識其多樣化結構、評價其特殊性能及優異物理化學性質、評估其毒性與安全性的根本途徑，也是納米材料產業健康持續發展不可或缺的技術手段。
  • 【資料分享】史上最全XPS乾貨合集,輕鬆搞定XPS分析與應用!
    【乾貨】XPS最精煉的總結丨5分鐘全面了解XPS原理、制樣、應用和分析【乾貨】表面與界面分析之詳解XPS表徵與應用【乾貨】XPS原理、特點、應用以及譜峰擬合注意事項【乾貨】105頁香港城市大學X射線光電子能譜經典PPT【乾貨】XPS基本原理、儀器結構和使用方法、實驗技術、實驗實例
  • 怎樣正確、全面地分析XPS數據?
    X射線光電子能譜（XPS）作為一種材料的表面分析技術，經歷了50年的發展，為半導體產業、有機高分子領域、以及科研機關提供了重要的解析數據。XPS除了應用於表面領域的元素種類確定、元素化學結合狀態推測以及原子濃度的計算外；通過結合物理或者化學的表面刻蝕技術，又可對材料深度方向的相關信息進行追蹤調查。
  • 聽清華大學朱永法教授和國家納米科學中心劉忍肖老師在線講述...
    >報告日程：報告一：納米材料的形貌和粒度分析方法及應用報告人：朱永法清華大學化學系教授、博導，分析化學研究所副所長,國家電子能譜中心副主任。從事半導體薄膜材料的表面物理化學、納米材料的合成與性能、環境催化以及光催化的研究工作。報告概要：主要講述了納米材料最常用的三種形貌分析方法的原理和應用特點以及粒度分析的方法和在納米材料研究方面的應用實例。目前最常用的形貌分析方法是掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡和原子力顯微鏡。
  • 我院成功舉辦「清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班」
    3月22-23日，「清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班」在我院能源環境大樓學術報告廳成功召開。
  • 一文讀懂xps測試原理
    >　　（5）測量超薄（小於5納米）樣品的厚度　　利用電子在不同材料的傳播的平均自由程不同。　　除了基礎知識之外，在實際運用中，還有許多東西需要我們去不斷積累！其中「分析深度在1.5nm左右」，不一定吧？　　影響分析深度因素很多，簡單，比如，射線的功率，分析的材質等。還有就是電子在材料中的平均自由程。總體而言，就是幾個原子層大小。4、分峰　　對於XPS的分峰，不像XRD那樣有標準的資料庫。
  • 一組圖帶你了解金屬材料表面的三維形貌表徵應用
    本文將通過一組圖片帶您了解金屬材料表面的三維形貌表徵應用實例。材料常見失效形式的表面形貌表徵金屬材料的機械性能是零件的設計和選材時的主要依據。外加載荷性質不同(例如拉伸、壓縮、扭轉、衝擊、循環載荷等)，對金屬材料要求的機械性能也將不同（2）。下面幾張圖片分別為金屬材料常見失效前後的典型表面三維形貌分析。
  • 淺析XPS原理及其在失效分析中的應用
    導語在失效分析領域中，表面成分分析技術中的X射線能譜（EDS）應用已經非常廣泛，最近幾年，另外一類表面成分分析技術
  • 【乾貨】超全面鋰電材料常用表徵技術及經典應用舉例
    2、形貌表徵　　（1）掃描電鏡（SEM）　　收集樣品表面的二次電子信息，反應樣品的表面形貌和粗糙程度，帶有EDS配件的SEM可以進一步分析元素種類、分布以及半定量的分析元素含量。雖然SEM的解析度遠小於TEM，但它仍是表徵電池材料的顆粒大小和表面形貌的最基本的工具　　李文俊等利用密封轉移盒轉移樣品的基礎上，重新設計了針對金屬鋰電極的掃描電鏡的樣品託架，研究了金屬鋰電極在Li的嵌入和脫出過程中表面孔洞和枝晶的形成過程。
  • ...生物分析高效稀土發光體系的研究納米技術在光分析化學中的應用...
    女       出生年月： 1964-09 所在院校： 山東大學       所在院系： 化學與化工學院 職稱： 教授       招生專業： 分析化學
  • XPS分析軟體Casaxps作圖說明
    Casaxps軟體處理filename.vms格式的文件1.用casaxps處理寬譜 能夠得到的信息：（1）定性分析：歸屬寬譜中各個峰。圖1為經過峰歸屬後所得到得xps譜圖。（2）元素含量分析含量分析步驟在峰歸屬基礎上，點擊 Options →Elements→Periodic table→Find peaks， 寬譜上可能有的元素在周期表上為紅色，選擇想要計算元素含量的元素，點 擊Creat Region
  • GPC在聚合物材料分析中的應用
    分離柱子作為GPC的核心分離部件, 其內部填充多孔性的填料, 常被稱為凝膠, 凝膠是一種惰性物質, 其表面以及內部含有大量的彼此貫穿的孔洞, 孔洞的內徑大小不等, 僅允許直徑小於孔徑的分子通過。當被分析的聚合物材料隨著淋洗液進入色譜柱, 溶質分子向凝膠內部的孔洞擴散, 不同大小的分子有不同的運動時間。
  • 【材料課堂】24種材料表徵儀器匯總 值得收藏!
    當前，材料分析測試技術和儀器設備眾多，並且各有優點，隨其應用範圍愈廣，現有的測試表徵手段越來越不能滿足要求，發展新的表徵方法、測試技術勢在必行。就目前的現狀，小編匯總了材料表徵和性能測試過程中用到的所有儀器設備供大家參考。
  • 低調但不「單調」 聚焦質譜在環境分析的應用新進展——iCMS2020分...
    在會議第二天上午，進行的是質譜在環境分析領域應用新進展專場，邀請了香港浸會大學蔡宗葦教授、國家環境分析測試中心董亮研究員、中國科學院生態環境研究中心劉倩研究員等專家，分享了質譜成像技術在環境毒理研究的應用進展、質譜技術分析環境中持久性有機汙染物以及納米材料的質譜定量分析技術等不同方向的精彩報告。
  • 【材料課堂】X射線光電子能譜(XPS)譜圖分析
    第六屆材料微結構大賽報名啦，亮點多多！一、X光電子能譜分析的基本原理X光電子能譜分析的基本原理：一定能量的X光照射到樣品表面，和待測物質發生作用，可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。三、X射線光電子能譜法的應用(1)元素定性分析各種元素都有它的特徵的電子結合能，因此在能譜圖中就出現特徵譜線，可以根據這些譜線在能譜圖中的位置來鑑定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。
  • 納米技術與納米材料在纖維中的應用研究
    摘要：        本文介紹了納米技術在化學纖維中的應用方式，並闡述了納米技術在功能性纖維和其他特種纖維中的應用情況，以及納米材料在應用中存在的問題及解決方法，最後展望了納米技術的應用前景。
  • :清華大學電機系實現材料電損傷自修復
    近日，清華大學電機系何金良教授研究團隊利用納米顆粒在聚合物中的熵耗散遷移行為（entropy-driven migration），結合超順磁納米顆粒的磁熱效應，實現了熱塑性電介質的電樹損傷靶向修復和電氣絕緣性能恢復。這一研究成果於2018年12月31日在線發表在Nature Nanotechnology。
  • 石墨烯、納米銀線等觸控新材料崛起:應用分析
    一、各廠商爭相布局Metalmesh金屬網格技術　　Metal-Mesh是有別於傳統的ITO的觸控導電層，其特點之一是以Film為基礎，目前只是觸控技術之一，在手機和中尺寸觸控屏中應用比較多。MetalMesh具備以下優勢：首先，從工藝製程上來看，材料不會有浪費，材料本身成本也相對更低廉。
  • 對比學習幾種元素分析方法:EDS、XPS和XRF
    XPS最精煉的總結丨5分鐘全面了解XPS原理、制樣、應用和分析乾貨丨經典案例解析如何利用XPS表徵材料表面信息
  • 網絡講堂:導電原子力顯微鏡(C-AFM)在二維材料及納米電子器件中的...
    ，它不僅可以對樣品的形貌進行表徵，更重要的是可以探測許多介質材料和電子器件的局部電學性質。C-AFM技術已經成功表徵了介質薄膜的許多重要的納米級現象，比如：局部缺陷、電荷捕獲和釋放、應力誘導漏電流、負偏置溫度不穩定性等。