最近跟好幾個同事聊到了CPK,大家普遍遇到的困擾就是Cpk與Ppk這兩個參數的區別,以及如何從正確使用這兩個參數來進行過程管控,今天我們就借咱們的分享平臺來簡單的分析分析:
先看啥是CPK和PPK。
Cpk (Process Capacity index):過程能力指數,所以它表示的是過程的能力高低.
Ppk(Process Performanceindex):過程性能指數,體現的是過程實際表現的好壞。
怎麼來區分呢?舉個例子:一個學生有能力考得全班第一,說明他的能力很好,也就是CPK很高。但是這段時間因為身體出了點狀況,影響到了學習,因此考試並不一定能真的考到全班第一,即他的表現並不一定反映他的能力。
我跟好幾個同事說過,CPK是幫我們成為算命先生的。什麼是算命先生?我有幸認識一個大師,大師在京城叱詫風雲,混的風生水起,他告訴我說:「如果你找人算命,算命的告訴你什麼時候有血光之災,那只有兩種可能。要麼真的是大仙,要麼是大忽悠。現在學風水,易經的都是看人的運勢。所以CPK其實也是幫我們來判定未來生產過程的趨勢。
首先,我們必須記住CPK使用的先決條件:過程是穩定受控的狀態。過程是穩定受控的狀態,過程是穩定受控的狀態。重要的事說三遍。
因此CPK必須配合用SPC控制圖進行過程控制,先判斷過程是否到穩定受控的狀態。任何不受控的過程或者過程有異常時測CPK都是大忽悠。
Cpk的計算公式如下:
CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
同時,為了方便說明,這裡我們選擇一個比較特殊的情況:過程的產品均值與過程的目標值重合。在這種情況下,
CPK= (USL-LSL)/6σ
在上述的公式中,σ表徵的是過程變化的大小,而USL-LSL是公差允許的變化。這兩個值的比例越高,即Cpk的值越高,這個過程產生不合格產品的機率就越低,代表這個過程的能力越強。
對於一個處於過程中心線和目標值重合的穩定過程來說,Cpk值和不合格率的對應如下(Cpk值和不合格率的對應可根據正態分布的原理進行計算,篇幅的關係這裡不做進一步說明):
所以,Cpk越大,產生不合格的機率越低,代表這個過程的能力越強。
但在實際的生產過程中,任何一個過程都可以脫離穩定受控的狀態,這好比一個有能力考全班第一的學生,他不一定會好好學習。在這種情況下,過程表現出來的不是這個過程最強的能力(即過程的表現達不到Cpk所體現的能力)。所以我們要用PPK來衡量過程的實際表現。
PPK= Min[ (USL- Mu)/3S, (Mu - LSL)/3S]
有人可能要問了,PPK和CPK看起來沒啥區別啊。其實區別可大了:
最大的變化來自於如何衡量過程變化的大小。之前我們提過CPK只有在過程受控穩定的狀態下才有意義,因此CPK考慮的是樣品組內的差異。根據AIAG的SPC手冊第二版說明,對於一個穩定的、受控的過程來說,子組間的變化應該是0!所以整個過程的變化只由子組內變化的大小決定。換句話說,CPK考慮的是普通原因引起的變差。因此取值時我們可以隔一段時間取一組數值。
PPK考慮的是過程整體的變化情況,不但包括子組內部的變化,還包括子組間的變化,所以是過程實際表現出來的狀態。換句話說,PPK考慮的不僅是普通原因的變差也考慮了特殊原因的變差,因此樣本取值通常是連續取值。(普通原因變差,特殊原因變差可以參考上一篇文章,統計學入門)
綜上所述,Cpk的計算是基於一個過程是處於穩定受控的狀態,此時的過程是過程所能達到的最佳狀態,所以Cpk值代表的是過程的能力。通常情況是在產品量產後,過程穩定後配合控制圖來進行過程監控和預測用的。
而Ppk的計算是考慮到事實上的過程不一定處於穩定受控的狀態,所以,Ppk反映的是過程的真實表現。通常用於新產品導入,新設備及模具工裝導入時監控。
正常來說Ppk永遠都不會超過Cpk。(Mintab軟體計算時因為計算公式的問題可能會有偏差)
在了解了Cpk和Ppk的區別後,需要說明一下,在用SPC進行過程控制和改善時,應同時監控Cpk和Ppk的值,並監控兩者之間的差距。如果兩者的差距較大,代表這個過程的表現沒有達到過程的實際能力,過程可能存在特殊原因引起的變化,所以需要採取措施消除特殊原因。
我們實際工作中還會遇到很多K,比如CMK,CGK等等,應用於不同的場合,有時間我們再做分享。希望對大家的工作有所幫助,可能解釋的不是特別清楚,如果有問題可以隨時跟我交流。