力科的信號完整性網絡分析儀SPARQ可快速定位連接器,背板和電纜的串擾，可使用單端或差分埠分配來測量近端串擾(NEXT，next-end crosstalk)或遠端串擾(FEXT, far-end cross talk)。SI工程師可使用8埠或12埠的SPARQ(型號是SPARQ-3008E和SPARQ-3012E)來測量多個差分對通道之間的近端串擾和遠端串擾。 SPARQ因其巨大的價格優勢和易用性，比VNA更普羅眾生，已成為信號完整性領域測量S參數和串擾模型的首選工具。
本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201610/308733.htm串擾的挑戰
21 世紀已經見證了雲計算、音視頻流媒體的市場爆炸式增長，消費者期望瞬時獲得乙太網上提供的各種東西。 為了滿足這個需求，信號的比特率在持續提高，相應地帶來了信號完整性問題包括串擾問題越來越普遍。串擾是幹擾源通過邊緣場效應耦合到被幹擾對象的線路上的 噪聲或幹擾。邊緣場耦合臨近傳輸線的信號和回流路徑。 SI工程師正面臨的挑戰是：他們必須應對不斷增長的高通道密度的需求，這種需求對封裝、線徑、過孔和連接器的設計都帶來了挑戰，而且要能預測更高密度帶來 的串擾是否會超過設計上對噪聲可以接受的裕量，要知道極限在哪裡。此外，SI工程師利用SPICE或其它工具仿真串擾首先要對系統進行建模，需要通過測量 真實的DUT的S參數來驗證模型的準確性。
SPARQ的基本操作
力科的信號完整性網絡分析儀SPARQ非常易於配置和操作以 快速測量出NEXT和FEXT。 SPARQ使用內部的OSLT校準套件實現自動的校準，免於手工反覆的的「連接和斷開連接」外部的校準件或「ecal」校準模塊。用戶只要將SPARQ連 接到被測物，配置一些基本設置如截止頻率，測量的點數和埠數然後點擊「Go」就可以完成操作，幾乎不需要任何使用經驗。 SPARQ將從所有DUT埠上按順序採集TDR和TDT波形，在計算DUT的S參數時將利用校準數據對內部的開關矩陣和外部的電纜、夾具效果進行去嵌。 具體關於SPARQ的工作原理請參考應用文章SPARQ S-parameter MeasuremenTMethodology。在測量運算完成後將顯示出S參數結果。 注意，SPARQ將測量出完整的S參數矩陣(VNA用戶將它稱為「full crossbar」配置)
配置SPARQ測量差分的NEXT和FEXT
SPARQ 按單端方式來實現測量，先給一個埠輸入TDR脈衝作為激勵，同時測量出另外相應埠感應到的反射信號，和典型的VNA的方法一樣(所有的埠都要被「掃 描」到，比如對於8埠測量就需要8*7=56個排列組合的連接方式來測量出相應的TDR和TDT)。單端S參數可轉換為混合模式S參數結果，包括差分到 差分、共模到共模以及模式轉換的S參數。單端S參數基於SPARQ埠配置的設置菜單來確定是否轉換為混合模式S參數。SPARQ的埠可以靈活配置，功 能很強大,而且可以在測量之後重新配置來做後續分析。圖2表示的配置用於圖3的網絡連接圖。
SPARQ 用戶能夠同時在時域和頻域觀察NEXT和FEXT。圖4 表示SPARQ配置為顯示了在頻域和時域上的差分到差分和共模到共模的NEXT和FEXT串擾。右邊四個波形是NEXT和FEXT串擾的S參數。左邊四個 波形是時域的結果，為得到這些結果，S 參數通過反向FFT(iFFT)轉換為時域然後再和用戶設定的上升時間的階躍信號進行卷積運算。結果中的時域波形容易理解，上面兩個時域波形表示了微波傳 輸帶結構中的NEXT和FEXT串擾的典型特徵。下面兩個是共模信號的NEXT和FEXT，顯示出阻抗不匹配帶來的相反方向的串擾反射。
這個測量使用的被測物是SPARQ DEMO板，包括了2組耦合的差分對，每組差分對緊密結合在一起,通過線徑厚度和空間距離的變化產生近似100ohm的差分阻抗，如圖5所示。