2015是德科技半導體器件測量和建模研討會: 低頻噪聲的準確測量與分析

2022-01-02 是德科技快訊

尊敬的用戶，您好

半導體技術的不斷推進使得器件的特徵尺寸越來越小，工作電壓越來越低，從而使保持可接受的信噪比變得越來越困難。噪聲對電路設計的影響也就越來越大，噪聲的類型有很多種，包括熱噪聲、散粒噪聲和 1/f噪聲等。其中最難測量的是 1/f噪聲，因為它出現的頻率極低。但1/f噪聲又顯著影響有源混頻器，壓控振蕩器，分頻器，運算放大器和比較器等電路的性能，而這些電路是射頻，模擬 / 混合信號，以及高速通信應用的基本模塊。1/f 噪聲和隨機電報噪聲 (RTN)的水平也是衡量半導體材料和製造工藝質量的兩個敏感指標，和器件電路的長期可靠性密切相關。隨著半導體新技術的不斷湧現，對低頻噪聲的快速測量和精準建模的需求更加強烈。

在過去的二十年中，是德科技已向世界頂級的半導體材料供應商，半導體代工廠，集成器件製造商和晶片設計公司提供了低頻噪聲的解決方案。而全新的 E4727A是一種高性能的低頻噪聲分析儀，可實現快速，精確且可重複的測量。E4727A 支持 1/f 噪聲和 RTN 的晶圓映射 (wafer mapping) 測量和數據分析。

此次研討會，我們首先帶領大家參觀是德科技北京的開放實驗室。在後續的技術交流環節中，我們將對低頻噪聲的重要性進行討論，並研究相關的測量和分析技術。我們還將介紹是德科技的先進低頻噪聲分析儀E4727A是如何實現精確、靈活和穩定的低頻噪聲測量。在最後現場演示中，我們將採用E4727A以及B1500A對封裝器件的1/f 噪聲和RTN噪聲進行測量與分析，以及使用MBP/IC-CAP建模軟體進行噪聲模型參數的提取。


日程安排

1:00-1:30 註冊籤到

1:30-:2:30低頻 1/f 噪聲和隨機電報噪聲（RTN）的測量與分析

2:30-3:00 B1500A 半導體器件分析儀介紹

3:00-3:15 休息

3:15-4:15 低頻噪聲測量的現場演示

4:15-5:00 是德科技開放實驗室參觀

時間：2015年9月16日（星期三）下午

地點：北京市朝陽區望京北路3號 是德科技（原安捷倫科技大廈） 二層 培訓教室2

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• 活動編碼為：15_EV_054917
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