電源完整性測試

2021-01-17 電子發燒友網
電源完整性(Power Integrity)簡稱PI,是確認電源來源、目的端電壓以及電流是否符合需求。PI所研究的就是如何為整個系統提供一個穩定可靠的電源分配網絡(Power Distribution Network,簡稱PDN),確定從DC轉換器的輸出到晶片、板卡和系統的直流電源的質量, 使得系統工作時,電源噪聲能夠得到有效控制,並充分抑制晶片工作時引起的電壓波動、輻射和串擾。電源完整性直接決定了產品的性能,如整機可靠性、信噪比與誤碼率,以及EMI/EMC等重要指標,正確測試和分析電源完整性也變得至關重要。PI以前隸屬於SI(Signal Integrity,信號完整性)專題,正是由於意識到它的重要性,目前研發人員已經將其作為一個獨立的專題來研究。常見的PI測試指標,包括周期性和隨機性擾動 (Periodic and Random Disturbances,簡稱PARD),即噪聲、紋波和瞬變;靜態和瞬態負載響應;以及電源漂移。PARD是直流輸出電壓與其期望值的偏差,它通常用峰峰值(Vpp)來衡量。靜態或瞬態負載響應測試,是對預定負載的指定輸出極限的測量。供電漂移測試的是供電幅度隨時間的變化和漂移,確認是否在容限範圍之內。

噪聲RMS值的測量與給定的波形樣本數量和採樣間隔有關,測試樣本少,峰峰值小,RMS值偏大。而只有樣本數足夠多的情況,測試值才會更準確。


傳統數字示波器在小信號狀態下無法觸發,示波器只能實現每秒20次左右的波形採集,波形捕獲間隔過大,樣本積累較慢,無法獲得準確的RMS值。


隨著電子產品的功能增強,元器件密度增大及運行頻率的升高,推動了對更低電源電壓的需求。電路設計如DDR通常使用3.3V、1.8V、1.5V甚至1.2 V DC電源,每個電源的容差都比前幾代產品小。對於數字器件而言,電源噪聲/紋波的要求還在幾十mV量級,而對於模擬器件和混合器件而言,電源噪聲/紋波已經到了100uV量級,乃至10uV量級。工程師需要放大電源軌(Power Rail)以查找瞬變,測量紋波並分析其上的信號耦合。然而示波器通常在小量程的垂直檔位沒有足夠的直流偏置,無法將直流電源軌移動到屏幕中心以進行所需的測量。AC耦合的方式(在信號路徑中放置隔直電容或DC Block)可以消除偏移問題,但也會消除電源軌中相關的直流信息(如直流電源壓縮或低頻漂移)。使用10倍衰減的探頭,有助於解決示波器直流偏置不夠的問題,但也會降低信噪比並對測量精度產生負面影響。有的工程師將示波器的50Ω輸入與同軸電纜和隔直電容(DC Block)串來提供1 : 1的衰減比的探測方法,精度也更高,但這會導致被測試的電源負載變大,並且由於使用隔直電容也同樣導致丟失直流電源壓縮和低頻漂移信息。


直流電源上的紋波、噪聲和瞬變是數字系統中時鐘和數據抖動的主要來源。處理器、內存和其他類似器件對直流電源的動態負載隨著各自時鐘頻率而發生,並可能在直流電源上耦合高速瞬態變化和噪聲,它們包含了1 GHz以上的頻率成分。設計人員需要高帶寬的工具來評估和了解其直流電源軌上的高速噪聲和瞬變。很多示波器在小量程測試時由於底噪過大而不得不限制帶寬,否則信號會被埋沒在噪音之中。如果我們需要達到GHz的PI測試能力,示波器的帶寬不能被限制。



3.4 特定頻帶內的RMS噪聲測試及噪音的時/頻域相關分析

某些電路元器件要求在特定頻帶內的RMS噪音在一定的範圍之內,如某LDO(低壓差線性穩壓器件)手冊要求噪聲指標為在10Hz到100KHz頻段為16uVrms。對於系統級測試,儘管噪聲參數會大於LDO的標稱指標,但數量級仍為uV-mV量級。傳統的示波器雖然有簡單FFT功能,但由於時域設置決定了其頻譜分析範圍,時頻域設置互鎖嚴重,頻域的放大並不能展示更多細節,導致其無法用於時/頻相關分析。



電路形態各異,需要有更靈活的附件來進行信號的探接。探接的穩定性和寄生參數對被測電源電路的影響不可忽視。


R&S的PI測試方案包含示波器主機和Power Rail 電源軌探頭。

 ▍ RTO/RTE示波器都具備高達1百萬次/s 的快速波形捕獲率,即使紋波/噪音這種長波形採集場景也可以利用Free Run模式輕鬆超過1萬次/秒捕獲率。短時間內累積到足夠的樣本量,有助於提高效率和測試準確性。▍ 硬體數字下變頻器(DDC)實現的實時頻譜分析功能,可以像使用專業頻譜儀一樣直接設定起始和終止頻率、SPAN、RBW。圖9  RTO示波器查找EMI耦合源(高頻FFT) ▍ RTE/RTO示波器配合HZ-15近場探頭可以實現對電路EMI騷擾源的排查。


圖10  2015年 DesignCon最佳EMI診斷工具獎(RTE+HZ-15近場探頭)RT-ZPR20(2GHz) / RT-ZPR40(4GHz) Power Rail電源軌探頭則是專為PI測試量身定做。▍ 探頭衰減比為 1:1,在 1 GHz 、1 mV/div 時,探頭連示波器整體噪聲電壓僅為 120 μV。▍ 探頭高達+/-60V的內置偏置能力,直觀顯示電源的直流成分以及低頻漂移,這與AC耦合或隔直電容方式容易丟失信號成分形成鮮明對比。圖13  AC耦合方式和電源軌探頭直流偏置方式對低頻漂移特性的差異性▍ 探頭50 kΩ 的高直流輸入阻抗可最大程度地降低對待測電源的幹擾▍ 探頭內部集成式 16 位數字電壓計功能可同步讀取每路電源的直流電壓數值,並可一鍵精準設置示波器的偏置值。▍ 專用的同軸探測線纜可焊接到電源濾波電容的兩端,標配的點測附件則便於PCB上不同位置的輕鬆探測。圖14  RTO-ZPR20/40的各種連接方式與帶寬掃描二維碼,了解更多關於電源完整性測試的信息和方案:當今電子電路正在逐漸往高速、高密方向發展,而且很多電路還是射頻、模擬和數字邏輯電路相交叉,這對研發提出了嚴峻的考驗。PI問題會導致信號回流路徑變化多端,從而引起信號質量變差,連帶引起產品的EMI性能變差,直接影響最終PCB板的信號完整性。設計一個高質量的PCB板,應該從信號完整性(SI)和電源完整性(SI)兩個方面來考慮。R&S公司的RTE/RTO/RTP系列示波器不僅支持傳統的SI問題定位,加上RT-ZPR系列Power Rail電源軌探頭也很好地適用於PI的測試分析,幫助研發人員更快更好地開發出性能穩定的產品。

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