Bruker新品發布!高端波長色散型X射線螢光光譜儀

2020-11-28 OFweek

當地時間(德國,卡爾斯魯厄)2017年5月22日,Bruker公司發布了全新的S8 TIGERTM Series 2高端波長色散型X射線螢光光譜儀(WDXRF),為S8 TIGERTM系列第二代產品。

S8 TIGERTM Series 2是XRF產品系列中創新設計的高端產品,具有強大的定量元素分析功能,專門為工業過程和質量控制要求很苛刻的應用領域,以及研發實驗室要求的功能強大的元素分析工具而設計。

S8 TIGERTM Series 2加入了全新的High Sense技術,從而獲得了非常理想的線性動態範圍和更好的精密度。此外,檢測時間顯著縮短,樣品處理量增加,這使得S8 TIGERTM Series 2的檢測效率提高了25%。

S8 TIGERTM Series 2另一項重要功能是XRF2小光斑映射,該功能可獲得被測材料中元素分布的詳細信息。光斑直徑300um,從而獲得了WDXRF可用的最高空間解析度,這使得S8 TIGERTM Series 2可以很好地滿足工業質量控制實驗室和方法開發實驗室的需求。

此外,S8 TIGERTM Series 2全新的HighS ense X-射線光學系統提高了檢測靈敏度和解析度,這有利於廣泛的應用, 包括對顆粒的識別、採礦過程中礦物選礦工藝的優化、金屬、半導體和納米技術的材料性能分析。

全新的TouchControl用戶界面,為高端XRF系統創立了操作簡便的新的理念。對於不經常操作儀器和經驗較少的用戶,其操作培訓很簡單。獨有的樣品保護功能能自動識別樣品,集成的防汙染護罩可以保護S8 TIGER避免各種可能的汙染,保證儀器能長時間有效運行。

相關焦點

  • 布魯克公司最新發布S2 PUMA能量色散型X射線螢光光譜儀
    S2 PUMA ——新一代適應性強大的光譜儀  布魯克公司於2015年3月9日,發布了一款可分析多元素的能量色散型X射線螢光光譜儀S2 PUMA。(LE)配置,採用了薄窗X射線管及超薄窗的XFlash®探測器  HighSense?
  • 順序式波長色散X射線螢光光譜儀的運動系統控制
    摘要:本文介紹了一種利用LPC1766微控制器實現順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制方案。系統分析了順序式波長色散X射線螢光光譜儀的電機系統控制需求,充分利用LPC1766豐富的PWM和GPIO中斷功能,配合光電開關的邏輯順序,控制直流電機運動,最終實現了光譜儀中晶體、準直器和濾光片的準確定位。測試結果符合《JJG 810-1993波長色散X射線螢光光譜儀檢定規程》的要求。
  • 能量色散型與波長色散型X 射線螢光分析儀的特點與差異
    X 射線螢光分析技術可以分為兩大類型:能量色散X 射線螢光分析(EDXRF)和波長色散X 射線螢光分析(WDXRF);而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD 型。在不同的應用條件下,這幾種類型的技術各有其突出的特點。
  • X射線螢光光譜儀分類
    60年代末70年代初以來,X射線螢光光譜儀大致分為使用晶體分光的色散型和不使用晶體分光的非色散型兩類。使用半導體探測器的X射線螢光光譜儀當初被劃為非色散型光譜儀的一種,但由於近年來半導體探測器性能(特別是能量解析度)提高,使用技術發展,現已被確定為一個能量色散的新分支。
  • 浙江工業大學關于波長色散型X射線螢光光譜儀的中標結果公示
    一.採購人名稱:浙江工業大學二.採購項目名稱:波長色散型X射線螢光光譜儀三.採購項目編號:ZJGDZC-2012-052-4四.採購組織類型:分散採購自行組織五.採購方式:公開招標六.採購公告發布日期:2012年6月19日七.定標日期:2012年7月13日八.中標結果:
  • 能量色散X射線螢光光譜儀之水泥行業應用專題
    而能量色散X射線螢光光譜法(EDX)獨具快速、無損、且能給出整體元素成分結果的特點,是快速獲知固廢中重金屬(Cr、Mn、Zn、As、Pb)和各種其它無機元素(Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、Fe等)含量的最佳手段。因此,我們使用能量色散型X射線螢光光譜儀(5E-XRF2500)建立了汙泥、汙染土壤中重金屬、主量無機元素的分析方法。
  • 島津發布多道同時型波長色散X射線螢光光譜儀新品
    ①X射線管上照射方式: 避免樣品粉塵對X射線管窗口的汙染②每個通道真空全密封,無汙染風險③電路板密封保護,特殊散熱,拒絕粉塵汙染 ④全新設計的真空管路粉塵吸附裝置: 避免粉塵進入真空泵和電磁閥低故障Plus低維護成本
  • 帕納科波長色散X射線螢光
    波長色散 X射線螢光 (WDXRF)    X射線螢光光譜是根據Moseley定律,任何特徵輻射(例如 K, L, M等)的波長與元素原子序數的平方成反比。這些波長已經可以從資料裡查到。通過測量特徵X射線輻射的波長,可以推斷出來自於哪一個元素。
  • 中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019)》正式發布
    儀器信息網撰寫完成了《中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019)》。文|吳優能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)以其快速、對試樣無損、多種元素同時分析、分析成本低等優點,在許多領域中發揮著巨大的作用。
  • 東方測控水泥專用波長色散X射線螢光光譜儀通過驗收
    近日,從四平北方水泥有限公司傳來消息,東方測控首臺水泥專用型波長色散X射線螢光光譜儀在現場運行穩定,各項技術指標均達到驗收要求,順利通過驗收。   X射線螢光光譜儀(水泥專用型)是東方測控繼中子活化水泥元素在線分析儀後推出的又一款高科技檢測產品。
  • 什麼是全反射X射線螢光光譜儀技術?
    ,再入射到塗有樣品的第三級反射體上激發出樣品的特徵X射線,最後被探測器接收並由檢測系統進行記錄處理。創想X射線螢光光譜儀的定義為:入射X射線剛好發生反射現象時的人射角度。忽略在吸收限處的共振和量子效應,由經典色散理論可推出臨界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中:Z為原子序數;p為密度,g/cm2 ;λ為人射X射線的波長,cm;λ反射體的原子量,g/mol。
  • 2011年下半年發布儀器新品:X射線類
    2011年年中,我們對上半年上市的X射線類新產品做了總結,其中主要為X射螢光光譜儀,並且不少產品是藉助匹茲堡展會的平臺進行了新品發布。2011年下半年的X射線類新產品主要有布魯克的D8 VENTURE 單晶射線衍射儀,安捷倫推出的新一代Nova 微焦斑銅光源,以及牛津儀器和天瑞儀器最新推出的手持式能量色散X射線螢光光譜儀。
  • X螢光光譜儀的分析原理及構造
    X射線螢光(XRF)能用於測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。  X-螢光光譜儀工作原理  X-螢光光譜儀有兩種類型:一種是波長色散型(WDX),一種是能量色散型(EDX),我公司(INNOV-X中國服務中心)使用的是波長色散型(XRF分析儀),在WDX中,螢光光譜通過色散元件(如晶體)被分離成不連續的波段,然後用氣體正比計數器或閃爍計數器檢測,其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器
  • 《中國能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)市場調研報告(2019...
    能量色散X-射線螢光光譜儀(ED-XRF)以其快速、對試樣無損、多種元素同時分析、分析成本低等優點,在許多領域中發揮著巨大的作用為了更系統地了解近年來我國ED-XRF的技術與應用進展、未來發展趨勢及市場情況等,儀器信息網特組織了「能量色散X
  • Pittcon新品掃描:X射線類
    儀器信息網編輯特將Pittcon展會上所了解到的重要儀器及最新產品信息按照類別進行整理,編輯成有機質譜及色譜類新品、光譜類新品、X射線類、物性測試類等,以饗網友。  (註:新儀器的研發周期較長,文中介紹的產品大部分是最近1-2年內推出的產品。
  • 2012年上半年發布儀器新品:XRF
    XRF主要由光源、色散元件、探測器、數據處理等部分組成。目前,XRF的主要類型有波長色散型XRF和能量色散型XRF。  XRF激發樣品的光源主要包括具有各種功率的X射線管、放射性核素源、質子和同步輻射光源。波長色散X射線螢光光譜儀所用的激發源是不同功率的X射線管,功率可達4~4.5kW,類型有側窗、端窗、透射靶和複合靶。
  • 能量色散型 X 射線螢光光譜儀(EDX)分析化工廢棄物成分
    島津 EDX 系列能量色散型 X 射線螢光光譜儀,可以快速無損分析出樣品的組成成分,為化工廢棄物的篩選分類和規範處理提供科學的依據。關鍵詞: 化工廢棄物,成分分析,能量色散型 X 射線螢光分析儀化工行業生產過程產生了大量的化工廢棄物,按物理形態化工廢棄物分為廢液、廢氣、廢渣等種類,多屬於固體廢棄物。
  • 關於發布《土壤和沉積物 無機元素的測定 波長色散X射線螢光光譜法...
    為貫徹《中華人民共和國環境保護法》,保護環境,保障人體健康,規範環境監測工作,現批准《土壤和沉積物 無機元素的測定 波長色散X射線螢光光譜法》等兩項標準為國家環境保護標準,並予發布。  標準名稱、編號如下:   一、《土壤和沉積物 無機元素的測定 波長色散X射線螢光光譜法》(HJ 780-2015);   二、《環境空氣 五氧化二磷的測定 鉬藍分光光度法》(HJ 546-2015)。   以上標準自2016年2月1日起實施,由中國環境科學出版社出版,標準內容可在環境保護部網站(bz.mep.gov.cn)查詢。
  • 展望X射線光譜儀的原理和發展
    X射線光譜儀是進行組分和結構分析的有力工具,簡述了X射線光譜儀的基本原理並對其進行了分類,重點介紹了其在光源、探測器等硬體發麵的發展,簡要介紹了其應用,最後對其發展趨勢作了簡要展望。隨著電子技術、真空技術、光學技術、計算機技術的發展, X射線光譜儀技術獲得了巨大突破,其分析儀器不斷朝著小型化、多功能化、智能化方向發展,並不斷產生了新技術和新分支,豐富著X射線螢光光譜儀家族體系、拓寬著應用領域。
  • X螢光光譜儀改進方向
    X射線螢光光譜儀根據有手持和臺式兩種,所採用的都是X螢光光譜儀的原理。XRF螢光光譜儀由激發源和探測系統構成。X射線管產生入射X射線,激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。