能量色散型與波長色散型X 射線螢光分析儀的特點與差異

X 射線螢光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關生產企業提供了一種可行的、低成本的、並且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對於其他分析方法（例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適合用於各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。

X 射線螢光分析技術可以分為兩大類型：能量色散X 射線螢光分析（EDXRF）和波長色散X 射線螢光分析（WDXRF）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（Si-PIN）型和SDD 型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。

儘管目前各家能量色散儀器（均為Si-PIN 類型）生產商和銷售商都給出了很高的技術指標，但在實際應用中（特別在被測樣品不進行處理的情況下），真正可以期待的準確度都在200~300ppm 之間（測量塑料中有害元素時，準確度會好一些；對不規則樣品，則精度會更差）；波長色散X 螢光分析儀的測量準確度比能量色散類型要高一個數量級，基本在20~50ppm左右。

由于波長色散配備較大功率的X 光管，螢光強度高；因此，波長色散儀器佔用較短的測量時，便能達到較高的測量精度。

由於技術特點的差異，波長色散X 螢光分析儀需要對被測儀量樣品進行簡單的處理；對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑，對粉末和其他樣品可以採用磨細後進行粉末壓片法處理，相應的設備市場上很容易找到。

能量色散型儀器最大的優勢在於：可以對樣品不作特別複雜的處理而直接進行測量，對樣品也沒有任何損壞，適合直接用於生產的過程控制中；

但需要強調指出的是：從螢光理論上，被測量樣品的預先處理是必須的，對於能量色散儀器來說，我們可以採取一些技術手段進行校正來滿足實際生產控制的需要，但即使採用了技術校正的手段，對不規則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。

由于波長色散和能量色散類型X 螢光分析儀各自的技術特點，兩種類型儀器所側重的應用方案也不盡相同；波長色散X 螢光分析儀具有較高的測量精度，但同時需要對被測量樣品進行簡單處理，更適用於進廠原材料、半成品、成品的精確檢測和質量控制；能量色散X 螢光分析儀雖然測量精度稍差，但具有快速、直接測量各種形狀樣品的優點，因此可直接在生產線上用於各種部件、電子元器件的檢測。

能量解析度是X 螢光分析儀器的主要指標，解析度數值越小，解析度越高，儀器性能越。

對於X 螢光分析儀器來說，各元素含量與該元素的螢光強度成正比關係；螢光強度越高，則統計誤差越小，測量的準確度越高，儀器性能越好。

波長色散類型儀器的使用壽命一般為10 年以上；能量色散類型儀器的使用壽命一般也大於5 年，影響能量色散型儀器壽命的主要因素是探測器部分老化導致其性能指標變差。

（來源：網際網路）

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