目的
建立通用卡尺校準作業指導書 ， 規範通用卡尺的校準方法 ， 減少人為誤差 ， 提 高量測準確度 . 本校準程序可供本實驗室相關人員 ， 對於通用卡尺類之校準方法及步驟 ， 作參考遵循依據 . 另可供本實驗室新進人員教育訓練 ， 及提升技術能力 .
2.適用範圍：
本程序適用於符合下列條件的遊標卡尺、帶表卡尺、數顯卡尺：
項目 範圍 準確度
遊標卡尺 0~300mm ±0.04mm
遊標卡尺 0~300mm ±0.04mm
數顯卡尺 0~300mm ±0.04mm
本作業指導書規定的基本要求 ， 如客戶有特殊要求 ， 可作適當增刪 .
3. 環境設備條件和校準項目
3.1 環境條件
3.1.1 環境溫度 ：20 ± 2℃.
3.1.2 相對溼度 ：40%-60%R.H.
3.1.3 無影響儀器正常工作的電磁場和機械振動
3.2 校準項目
3.2.1 外觀及各部分相互作用 ；
3.2.2 測量面的平面度 ；
3.2.3 圓弧內量爪的基本尺寸 ；
3.2.4 圓弧內量爪的平行度 ；
3.2.5 刀口內量爪的基本尺寸 ；
3.2.6 刀口內量爪的平行度 ；
3.2.7 零值誤差 ；
3.2.8 示值變動性 ：
3.2.9 數字顯示器的示值穩定性 ；
3.2.10 深度示值誤差 ;
3.2.11 示值誤差 ;
3.3 校準用設備
3.4 校準方法
直接量測法 : 用待校準卡尺直接量測標準量塊
4. 校準程序
4.1 外觀及各部分相互作用檢查
4.1.1 目力觀察卡尺表面有無鏽蝕、碰傷、毛刺等明顯劃痕，標尺標記是否清 晰，表蒙是否清潔，以及有無其它影響外觀質量的缺陷。
4.1.2 尺框沿尺身移動是否手感平穩，有無阻滯和鬆動現象；數字顯示是否清 晰、完整；各按鈕及螺釘功能是否穩定、工作可靠。
4.2 校準前準備
4.2.1 用 99.5%的酒精 ( 配合無塵紙 ) 清潔待校件工作測量面 .
4.2.2 將待校件和使用標準件放於平臺上恆溫( 在以上標準溫度下 )2 個小時以
4.3 測量面的平面度
4.3.1 用刀口直尺在外量爪測量面的長邊 , 短邊和對角線的位置上進行光隙法 測量 , 其平面度根據各方位的間隙情況確定 .
4.3.2 用刀口直尺在深度測量面 ( 帶深度測量杆 ) 的長邊 , 短邊和對角線的位置 上進行光隙法測量 , 其平面度根據各方位的間隙確定
4.4 圓弧內量爪的基本尺寸和平行度
4.4.1 閉合待校卡尺外量爪 , 用外徑千分尺在內量爪距外端 2mm處開始測量內 量爪平於尺身的內量爪尺寸 ( 全內量爪範圍 ).
4.4.2 內量爪尺寸偏差以測量值與基本尺寸之差來確定 .
4.4.3 內量爪平行度以其全長範圍的量測最大值與最小值之差工來確定
4.5 刀口內量爪的基本尺寸和平行度
4.5.1 將尺寸為 10mm的量塊平持於兩外測量爪測量面之間 , 緊固螺釘 , 以量 塊能在量爪面間滑動面不脫落為準 . 用外徑千分尺沿刀口內量爪在
平行於尺身方向測量 , 外徑千分尺讀值記 Xi(mm 為單位 ).
4.5.2刀口內量爪尺寸偏差
△ R = Ximax – 10
4.5.3刀口內量爪平行度
II = Ximax –Ximin
Ximax ---- 外徑千分尺多次測量內徑示值中最大示值 ;
Ximax ---- 外徑千分尺多次測量內徑示值中最大示值 ;
4.6零值誤差
移動尺框 ,使卡尺 (遊標或帶表卡尺 )量爪兩外測量面接觸 ,分別在尺框緊固和 鬆開的情況下 ,用目力觀察或用影像量測儀來觀察其零值誤差 .
4.7示值變動性
在相同條件下 ,移動尺框 ,使數顯卡尺或帶表卡尺量爪兩外測量面接觸 ,重複測 量 10 次並讀數 .示值變動性以最大與最小讀值之差確定 .
4.8數字顯示器的示值穩定性
對數顯卡尺 ,在其任意範圍內觀察 1 小時內顯示值的變化量 .
4.9 深度(帶深度測量杆 )示值誤差
4.9.1 將兩塊 20mm 的量塊置於平臺上 ,使尺身測量面與量塊接觸 ,伸出測量杆
測量面與平板接觸 ,然後在尺身上讀值 X(mm 為單位 ). 4.9.2 深度示值誤差
△ R = X – 20
X ---- 深度測量示值 .
4.10 示值誤差
4.10.1 將一量塊 ( 標準值為 X0) 放於外量爪之間 , 在尺身上讀數 , 測量時量塊工 作面的長邊和卡尺測量面的長邊應垂直 , 每一受測點應在量爪的裡端
和外端兩位置測量 , 重複測量 3 次取其平均值作為卡尺測量值 X.
4.10.2 根據校準點分布表 ,重複 4.10.1,每一卡尺校準 3~4 個值 .
4.10.3 示值誤差 .
△R = X – 20
X ---- 卡尺測量平均值 . X ---- 標準量塊標稱值
5. 校準結果和校準周期
5.1 整理記錄數據 , 出具校準報告書 .
5.2 在被校儀器上貼上校準標籤 .
5.3 正常使用中的通用卡尺 , 建議校準周期為 1 年.
6. 參考文件
6.1<jjg30-2002 通用卡尺檢定規程 >