分立電阻器檢定測試系統的常見誤差來源——熱電動勢

2020-11-26 電子產品世界

熱電動勢

當電路中的不同金屬處於不同溫度時，會形成熱電動勢(EMF)或電壓。為了消除這些不必要的電壓帶來的影響，使用偏置補償電阻測量方法。通常，這個方法在指定的電流源值測量電阻，然後減去電流源設置為零時測得的電阻。當源電流設置為零時，就可以測得是因熱電動勢而產生的電壓。

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/201701/337928.htm

通過2400數字源表前部面板或遠程總線，可以自動計算偏移補償電阻。為了通過前部面板配置這個功能，可以使用FCTN鍵。為了通過總線配置這個功能，可以使用CALC1子系統。

漏電流

在進行大電阻測量（如測試高兆歐電阻器）時，線纜和夾具中的洩漏電流可能成為誤差的一個來源。為了使這個問題的影響最小化，在建造測試夾具時要使用高阻抗材料。

2400數字源表的內置保護裝置提供了減少漏電流的另一種方法。該保護裝置是電路中的一個低阻抗點，與被保護的高阻抗點幾乎具有相同的電勢。圖1中的實例給出了最好的說明。

圖1. 2400型數字源表的內置保護裝置

在這個例子中，待測電阻器(RX)安裝在兩個絕緣支架上(RL)。在這個電路中使用保護裝置，確保所有電流流經RX而不通過支架。將2400型數字源表的V-Ω保護端與金屬板相連，就可以對該電路起到保護作用。這使得RL1絕緣體的底部與頂部幾乎處於同一電勢。由於絕緣體的兩端幾乎處於同一電勢，幾乎沒有電流流經絕緣體。因此，如同預期一樣，所有電流都將流經待測電阻器。為了避免共模噪聲以及其他幹擾引起的噪聲，數據源表的LO輸入/輸出端必須與金屬屏蔽層相連。

警告:保護端與HI輸出端處於同一電勢。因此，如果在HI輸出端出現危險電壓，那麼也在保護埠同樣也會出現危險電壓。

通常，當源電流較小或測量小電流(<1μA)時，應當使用線纜保護裝置。

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