iCEM 2016特邀報告:像差校正電鏡原理與應用

第二屆電鏡網絡會議(iCEM 2016)特邀報告

像差校正電鏡原理與應用

 

於榮 教授

清華大學北京電子顯微鏡中心

報告摘要：

　　作為文明的物質載體的材料都是由原子構成的。但原子到底是以怎樣的方式構成材料?它們又是怎樣影響材料的功能?對這些問題的探索就是材料的原子結構研究。在現代社會，這已不僅僅是純科學的好奇。因為材料的原子結構從根本上決定了材料的功能，所以也是工程技術研究的重要內容。

　　與材料研究的需求相適應，近年來在材料原子結構的實驗與理論分析領域都取得了長足進展。尤其是在高分辨透射電鏡上實現了像差校正，成為電子顯微學發展的裡程碑。這不僅使人們具有了亞埃尺度的分辨能力，而且對材料表面、界面、催化劑顆粒等局域結構的原子位置的測量達到了皮米精度，可以與X射線衍射對宏觀單晶的原子位置的測量精度相媲美。這從根本上改變了高分辨電子顯微學長期以來以定性分析為主的局面，給材料研究帶來了重大機遇。目前，世界上高端的透射電子顯微鏡不僅在大學與科研院所逐漸普及，也大量安裝在各大高科技企業。本報告將簡要介紹像差校正電鏡的基本原理及典型應用。

報告人簡介：

　　於榮，清華大學材料學院教授，北京電子顯微鏡中心主任，國家傑出青年基金獲得者。1996年畢業於浙江大學，1999年與2002年分別獲中國科學院金屬研究所碩士與博士學位，隨後在美國勞倫斯伯克利國家實驗室與英國劍橋大學從事博士後研究，2008年起任教於清華大學材料學院。

　　主要從事材料的高分辨電子顯微學和第一性原理計算研究，在原子尺度探索材料的微觀結構、電子狀態、及其與宏觀性能的相互關聯。在Phys. Rev. Lett., Angew. Chem., Acta Mater., Nature Comm.等SCI期刊發表論文90餘篇;他引1600餘次。

　　擔任中國晶體學會常務理事，中國電子顯微鏡學會物理與材料科學專業委員會副主任，中國物理學會固體缺陷專業委員會委員，中國有色金屬學會理化檢驗學術委員會委員，Science China Materials編委，《中國科學：技術科學》青年工作委員會委員等。

報告時間：2016年10月25日下午

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