第二屆電鏡網絡會議材料科學專場精彩內容搶先看

　　儀器信息網訊 2016年10月25日-26日，第二屆電鏡網絡會議即將舉行。本屆會議的報告內容我們依然圍繞材料科學和生命科學兩大應用領域展開。其中電子顯微學技術在材料科學領域的應用將聚焦低電壓掃描電鏡技術、FIB-SEM、像差校正、透射電鏡制樣技術、原位電鏡技術等方面。

　　在本次會議中，我們特別邀請了中國科學院上海矽酸鹽研究所研究員曾毅、國家納米科學中心納米檢測技術室高級工程師彭開武、清華大學教授、北京電子顯微鏡中心主任於榮、北京大學分析測試中心高級工程師鞠晶、西安交通大學微納尺度材料行為研究中心解德剛博士圍繞以上主題展開精彩報告。

　　曾毅：低電壓掃描電鏡技術在材料研究中的應用

　　低電壓掃描電鏡的特點是什麼?為什麼要採用低電壓進行掃描電鏡觀察?為什麼現有場發射掃描電鏡都具有較好的低電壓解析度(通常優於1.5nm)，但是很多掃描電鏡工作者卻不願意或者不敢使用低電壓進行觀察?如何在低電壓下獲得高清晰度圖像?採用低加速電壓進行掃描電鏡觀察時需要注意什麼?影響低電壓掃描電鏡圖像質量的主要因素有哪些?

　　中國科學院上海矽酸鹽研究所研究員曾毅將基於長期的掃描電鏡工作經驗，從理論和實際操作兩方面探討低電壓掃描電鏡在材料領域的應用，對以上問題作出解答，並介紹如何利用低加速電壓進行介孔材料觀察和分析?如何利用低加速電壓獲得材料真實的顯微結構信息?低電壓STEM在材料分析中的應用等內容?【詳細】

　　彭開武：聚焦離子束(FIB)技術在微納米材料研究中的應用

　　聚焦離子束(FIB)技術是一種集形貌觀測、定位制樣、成份分析、薄膜澱積和無掩模刻蝕各過程於一身的新型微納加工技術。它突破了只能對表層成像和分析的局限，可以對樣品進行三維的、表面下的觀察和分析，也可以對樣品材料進行切割研磨和沉積特定材料，用它可以獲得以前無法得到的樣品信息。

　　國家納米科學中心納米檢測技術室高級工程師彭開武在會議中將介紹聚焦離子束技術原理和功能，並圍繞其在微納米材料表徵方面，介紹幾個具體應用，包括：透射電鏡樣品製備、納米材料的三維表徵等，重點討論用於微納米材料電學性能測試的電極製作方法。【詳細】 

　　於榮：像差校正電鏡原理與應用

　　作為文明的物質載體的材料都是由原子構成的。但原子到底是以怎樣的方式構成材料?它們又是怎樣影響材料的功能?對這些問題的探索就是材料的原子結構研究。在現代社會，這已不僅僅是純科學的好奇。因為材料的原子結構從根本上決定了材料的功能，所以也是工程技術研究的重要內容。

　　像差校正電鏡的出現使人們具有了亞埃尺度的分辨能力，而且對材料表面、界面、催化劑顆粒等局域結構的原子位置的測量達到了皮米精度，可以與X射線衍射對宏觀單晶的原子位置的測量精度相媲美。這從根本上改變了高分辨電子顯微學長期以來以定性分析為主的局面，給材料研究帶來了重大機遇。在本次報告當中，清華大學教授、北京電子顯微鏡中心主任於榮將簡要介紹像差校正電鏡的基本原理及典型應用。【詳細】 

　　鞠晶：透射電鏡制樣技術

　　要想得到完美的電鏡照片，必須要有過硬的電鏡樣品製備技術，否則哪怕是採用最高精尖的電鏡也得不到理想的結果。近年來，大家愈來愈認識到電鏡制樣技術的重要性。同時，電鏡制樣技術是一項極其精細和繁複的應用技術，如何更好的掌握這些技術，獲得滿意的樣品，是許多電鏡工作者所關心的。

　　本次會議中，北京大學分析測試中心高級工程師鞠晶將為大家詳細介紹透射電鏡中常用的幾種制樣技術，如超薄切片技術，離子減薄技術等等。結合電鏡拍攝的具體要求介紹各種制樣技術的注意事項和操作細節。【詳細】 

　　解德剛：環境透射電鏡中的納米實驗室

　　近年來，隨著實驗技術的發展，透射電鏡正快速從一種靜態表徵技術拓展為動態表徵技術，即原位技術。原位透射電鏡技術在保持電鏡固有的高分辨的同時，再將各種力、熱、光、電、磁等物理場中的一個或多個施加給電鏡樣品，並利用相機記錄材料在該刺激下的響應過程，相當於在電鏡內部搭建了一個納米實驗室。

　　另外，新的環境透射電鏡以及新的樣品杆設計能夠為樣品提供一定的氣體或液體環境。如此一來，環境透射電鏡中的納米實驗室也可以用來表徵材料科學的最後的兩大塊：材料處理與服役性能。西安交通大學微納尺度材料行為研究中心解德剛博士將介紹原位透射電鏡技術在近年來的新發展，以及西安交大金屬強度國家重點實驗室微納中心利用該技術在材料科學研究中所進行的一些應用和探索。【詳細】

　　另外，本次電鏡網絡會議中，關於電子顯微學技術在材料科學領域的應用，還有徠卡儀器有限公司、復納科學儀器(上海)有限公司、日立高新技術公司、北京中科科儀股份有限公司、Gatan中國等儀器廠商帶來關於電鏡儀器及制樣設備的最新技術進展的報告。

　　程路：製備SEM/AFM樣品平整斷面的實驗方案介紹

　　徠卡納米技術部資深應用工程師程路將介紹製備SEM/AFM樣品平整斷面的實驗方案。程路，畢業於北京科技大學。從事電子顯微鏡領域10年，前往日本，德國及奧地利接受電子顯微鏡及電鏡樣品製備技術培訓及交流共計5次，作為徠卡納米技術部全球應用技術人才庫成員，不僅支持中國，也多次支持新加坡，韓國等國家。

　　吳長江：超薄切片技術在材料科學領域的應用

　　徠卡資深培訓講師吳長江將介紹超薄切片技術在材料科學領域的應用，徠卡在相關技術領域有著豐富的技術積累。吳長江，畢業於北京航空航天大學。從事顯微成像領域8年，在徠卡顯微系統中國工作7年，前往徠卡歐洲總部參加技術培訓並作為培訓講師培訓歐洲技術工程師共計10次。獲得徠卡納米技術部總部培訓師認證資格證書。

　　金相會：日立全新球差電鏡 HF5000

　　日立電子顯微鏡主管工程師金相會將介紹日立全新推出的200kV場發射透射電子顯微鏡HF5000，HF5000達到了亞埃級的空間解析度(0.1 nm或更低)，球差校正器為其標準配置。金相會，畢業於吉林大學，加入日立10年一直從事日立電子顯微鏡技術工作。多年來在日立電子顯微鏡日本原廠設計部門工作，回國後多次前往日本參加培訓，並獲得日立總部工程師認證。

　　孫佔峰：場發射掃描電鏡的技術和應用

　　北京中科科儀股份有限公司電鏡事業部副經理孫佔峰將介紹場發射掃描電鏡的技術和應用。孫佔峰，國家重大科學儀器設備開發專項-場發射槍掃描電鏡開發和應用項目實施負責人，國家重大科學儀器設備開發專項-新型深紫外全固態雷射源及前沿裝備開發(1)項目的技術骨幹，「十一五」國家科技支撐重大計劃-場發射槍透射電子顯微鏡研製的子課題負責人。

　　曹瀟瀟：原位電鏡技術的進展與應用

　　Gatan中國曹瀟瀟將介紹原位電鏡技術的進展與應用。曹瀟瀟於2010年畢業於上海大學材料研究所，師從著名核材料專家周邦新院士。曾就職於德國蔡司公司，作為主要負責人參與了中國國內第一臺能量過濾透射電鏡、氦離子顯微鏡、X射線顯微鏡等設備的安裝調試和應用開發工作。2014年7月加入Gatan中國，從事電子能量損失譜，原位電子顯微學的應用支持和技術推廣工作。

　　張傳傑：Phenom(飛納), The Essential SEM

　　飛納中國技術總監張傳傑將以飛納電鏡發展歷史與理念為主線為大家介紹飛納不同配置的臺式掃描電鏡在不同領域的應用。飛納電鏡致力於依託先進技術將掃描電鏡小型化，自動化;在保證性能的基礎上讓掃描電鏡更「親民」，更便捷，更高效。張傳傑，畢業於中科院蘇州納米研究所，2012年加入飛納中國，並一直從事臺式掃描電鏡應用技術支持工作。