幾何量計量專用名詞
一些常用的幾何量計量專用名詞的解釋及英文對照.
1 米（Metre,meter）
國際單位制長度量的基本單位。
1983年第17屆國際計量大會所通過「米」的新定義是：米是光在真空中1／299 792 458 s的時間間隔內所行進的路程長度。
註：
該次大會還規定了米定義的三種復現方法（2002年進行了修正）。①根據l=c0t關係式，由測出的時間t與給定的真空光速值c0復現長度值l；②根據λ＝c0/f關係式，由測出頻率f與給定的真空光速值c0復現長度值l；③直接使用米定義諮詢委員會推薦使用的雷射的真空波長、光譜燈的真空波長或其他光源的真空波長中的任一種來復現。
2 波長（Wavelength）
在一個周期T的時間內，波面傳播的距離。
3 光譜線半寬度（Half-linear width）
在該譜線上，光強為最大的波長與其光強只有最大值之半的波長兩者間的差值。
4 線偏振光（Linear polarized light）
光線矢量E沿著單一方向振動的光。
5 圓偏振和橢圓偏振光（Circular polarized light and elliplcallight）
光的矢量的兩個垂直分量之間具有相位差π／2時，稱圓偏振光；具有其他相位差時稱橢圓偏振光。
6 折射率（Refractive index）
介質的折射率是真空中的光速c0與在介質中光束的傳播速度c¢的比值，即
n＝c0/¢ c
相應地，真空中光波的波長l0在介質中變為l¢，而
式中：u－光的振動頻率。
7 光的相干性（Light coherence）
光波波場中，各個時刻到達空間各點的波列之間的相干情況稱為光的相干性。
8 光程（Optical path）
光線在某傳播介質中通過的距離r與該介質折射率n的乘積，即l=1r。
9 光程差（Optical path difference）
兩束光線所通過的光程l1與l2之差，稱為這兩束光線的光程差，即
D=l1-l2
10 幹涉場(Interference field)
可觀察到幹涉圖樣的區域。
11 幹涉條紋（Interference fringe）
在幹涉場中，具有相同相位差的諸點的軌跡，稱為幹涉條紋。
12 幹涉條紋寬度（Fringe width）
兩個相鄰幹涉條紋中心之間的距離。
13 幹涉條紋對比度（Visibility of fringe pattern）
幹涉條紋其光強的最大值與最小值之差除以幹涉條紋光強最大值與最小值之和的比值。
14 等厚幹涉（Equal thickness interference）
兩相干光束間光程差的不同，產生於光束的入射角不變而相干光程厚度d的不同所得到的幹涉現象。
15 等傾幹涉（Equal inclination interference）
兩相干光束間光程差的不同產生於光線的入射角I的不同，因而所得到的光幹涉發生於光束入射角相同處的幹涉現象。
16 要素（feature, components）
構成零件幾何特徵的點、線、面。
17 理想要素（Ideal feature）
具有幾何學意義的要素。
18 實際要素（Practical feature）
零件上實際存在的要素，測量時由使用測得值表徵的理想要素來代替。此時它並非該要素的具實狀況。
19 被測要素（Mcasured feature）
給出了形狀或（和）位置公差的要素。
20 尺寸（size）
用特定單位表示的幾何量量值。
21 基本尺寸（base size）
設計給定的尺寸。
名義尺寸一般是按標準化的系列選取的。
22 標稱尺寸（nominal size）
標明規格的尺寸，如M10代表了大徑為10mm的螺紋尺寸，其相應的大徑、中徑和小徑的基本尺寸均已進行相應的規定。
23 實際尺寸（Real size）
通過測量所得的尺寸。
由於測量結果存在不確定度，所以實際尺寸並非尺寸的真值。
24 尺寸偏差（簡稱偏差）（Size deviation）
實際尺寸減其基本尺寸所得的差值。
25 公差帶（Tolerance zone）
限制實際形狀或實際位置變動的區域。構成實際形狀和位置的點、線、面必須在此區域內。
26 直線度（Straightness）
被測直線（機構的直線部分或直線運動）與理想直線偏離的大小。直線度是用包容被測直線的兩個平行平面之間的最小距離表示（單方向的直線度）或包容被測直線的理想圓柱的最小直徑。
27 平面度（Flatness）
機構的平面部分或平面運動與理想平面偏差的大小。平度定義為剛好用包容一測量面的兩個相互平行平面之間的最小距離。
28 圓度（Circular）
包容同一橫剖面實際輪廓且半徑差為最小的兩同心圓間的半徑之差。
29 圓柱度（Cylindricity）
包容實際表面且半徑差為最小的兩同軸圓柱面的半徑差。
30 線輪廓度（Linear profile）
包容實際輪廓，且距離為最小，並與理想輪廓線成對稱配置的兩包容線之間的寬度。
31 面輪廓度（Planar profile）
包容實際輪廓面，且距離為最小，並與理想輪廓面成對稱配置的兩包容面之間的寬度。
32 平行度（Parallelism）
平行度評價直線之間、平面之間或直線與平面之間的平行狀態。其中一個直線或平面是評價基準，而直線可以是被測樣品的直線部分或直線運動軌跡，平面可以是被測樣品的平面部分或運動軌跡形成的平面。
平行度的評價：
當基準是直線，被評價的也是直線時，平行度是平行於基準直線且與評價方向垂直的，包含被測直線的，距離最近的兩個平面之間的距離；或平行於基準，且包含直線的理想圓柱的最小直徑；
當基準是直線，被評價的是平面時，平行度是平行於基準直線且包含被測平面的，距離最近的兩個平面之間的距離；
當基準是平面，平行度是平行於基準平面且包含被測直線或平面的，距離最近的兩個平面之間的距離。
33 垂直度（Perpendicularity）
垂直度評價直線之間、平面之間或直線與平面之間的垂直狀態。其中一個直線或平面是評價基準，而直線可以是被測樣品的直線部分或直線運動軌跡，平面可以是被測樣品的平面部分或運動軌跡形成的平面。
垂直度的評價：
當基準是直線，被評價的是直線時，垂直度是垂直於基準直線且距離最近的兩個包含被測直線的平面之間的距離；
當基準是直線，被評價的是平面時，垂直度是垂直於基準直線且距離最近的兩個包含被測平面的平面之間的距離。
當基準是平面，被評價的是直線時，垂直度是垂直於基準平面和評價方向，且距離最近的兩個包含被測直線的平面之間的距離；或垂直於基準平面，且包含被測直線的圓柱的最小直徑。
當基準是平面，被評價的是平面時，垂直度是垂直於基準平面且距離最近的兩個包含被測平面的平面之間的距離。
34傾斜度（Inclination）
指包含被測要素的圓柱的直徑或兩個平面之間的最小距離，該平面或圓柱與基準傾斜規定的角度。
35同軸度（coaxiality）
與基準同軸的，包含被測軸線圓柱的最小直徑。
36對稱度（Symmetry）
以基準為對稱中心，包含被測表面的對稱平面（或軸心線）的兩個平面之間的最小距離。
37位置度（Displacement）
以理想位置為中心，包含被測點、線或面的圓、球的最小直徑，或評價方向的兩平面之間的最小距離。
38圓跳動（ circle run-out）
被測要素繞基準軸線迴轉一周時，由位置固定的指示器在給定方向上測得的最大與最小讀數之差。
39徑向全跳動（Axial total run-out）
被測要素繞基準軸線迴轉一周時，與基準同軸的、包容表面所有點的同心圓柱的最小半徑差。
40軸向全跳動（Radial total run-out）
被測要素繞基準軸線迴轉一周時，與基準垂直的、包容端面所有點的兩個平面之間的最小距離。
41熱膨脹率(Thermal Expansivity)
材料尺寸隨溫度變化特性的度量。常用熱膨脹係數表示，符號為a，單位是1/°C，即材料溫度每變化1°C，長度尺寸的相對變化量。
42等別（Grade）
根據測量值的不確定度對被測儀器準確度的區分。
43級別（Class）
根據被測儀器計量特性和其他技術指標相對其標稱值的允許偏差，對被測儀器準確度的區分。
44直角坐標系（Cartesian coordinate system）
三個相互垂直的相交線性坐標軸組成的坐標系。
45空間坐標（spatial coordinates）
在特定三維坐標系下表述點位置的一組值。
46阿貝原則（Abbe principle）
長度測量時，被測長度應與標準長度軸線相重合，或者在其延長線上。
47最小變形原則（principle of minimum deformation）
為保證測量精度，測量過程中應盡力使各種原因引起的變形最小。
48最短測量鏈原則（principle of minimum measurement chain）
為保證測量精度，測量鏈的環節應最少，即測量鏈最短。
49圓周封閉原則（）
圓周分度的間隔誤差總和為零。
50艾利點（Airy points）
對全長為L（L>100mm）的棒狀體，在距兩末端面各為0.211L處的兩支承點。
當量塊支承於艾利點時，因量塊自重所引起的平面平行性變形最小。
51貝塞爾點（Bessel points）
對全長為L的棒狀體，在距兩末端面各為0.2203L處的兩支承點。
當線紋尺支承於貝塞爾點時，在刻線尺的中性面上，因尺子自重所引起的長度量的變化為最小。
52量規（Gauge）
工作部分外形與被檢驗對象為對偶件，能反映被檢零件邊界條件的測量工具。
53樣板（reference shape）
具有確定的幾何形狀，且滿足一定的準確度要求，可用之對其他類同形體的工件進行比較測量的參考標準器。
54塗層厚度標準器(layer thickness standard)
特殊製造的，帶有塗層的標準器。塗層的特殊分布，使厚度可以被直接測量。經校準的塗層厚度標準器用於標定塗層厚度測量儀器。
使用塗層厚度標準器時，通常應考慮塗層和基底的材料。
55端度標準器(End Standards)
利用兩個平行平面之間距離作為標準值的標準器。例如量塊，步距規，塞尺等。
56量塊（塊規）（Gauge block）
一對相互平行測量面間具有準確尺寸，且其截面為矩形（或圓形）的長度測量工具。
量塊是用來把長度尺寸從光波波長傳遞到產品的塊狀實物量具。
57量塊長度（Length of gauge block）
量塊一個測量面上的一點至與此量塊另一測量面相研合的輔助體表面之間的垂直距離。這時，量塊應不受使其長度和形狀發生變化的外加機械力作用。輔助體表面質量和材質應與量塊相同。
58線紋標準器(Line Standards)
利用兩個平行刻線之間距離作為標準值的標準器。例如：線紋尺，鋼捲尺和光柵等。
59直徑標準器(Diameter Standards)
圓柱形標準器，其直徑（或指定位置直徑）經過校準，形狀偏差在允許範圍之內。
60長度儀器(Length Instruments)
對一維長度量進行測量的儀器，如雷射幹涉儀，高度測量儀器，量塊比較儀，指示表檢查儀等。
61手持儀器(Hand Instruments)
小型手持式長度尺寸測量儀器，如卡尺、外徑千分尺、卡規等。
62遊標指示類測量儀器（meauring instruments with vernier indicator）
利用遊標原理讀數的計量器具。
63螺旋副計量器具（Screw pitch gauge）
利用精密螺旋副作為標準器製造的計量器具。
64光學儀器（optical instrumenet）
用光學的方法，實現對被測量的瞄準或測長的儀器。
光學儀器的不同瞄準方法包括：望遠法、顯微法、投影放等。
光學測長方法包括：光波（單色光、雷射）幹涉法、光柵法等。
65氣動測量儀器（Pneumatic measuring instrument）
以壓縮空氣為介質，用氣源系統的狀態（如流量或壓力）變化實現對被測量測量的儀器。
66電動測量儀器(electromotion measuring instrument)
把接觸信號或位移量轉化成電子脈衝信號或電參數變化的儀器。如觸發測頭、電感測微儀、電容測微儀等。
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