海洋光學發布電致發光量子效率測量系統 SpectrumTEQ-EL新品

2020-11-22 儀器信息網

SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟體,對話框式的軟體操作界面讓測量過程變得更為簡單。


測量參數

  • 量子效率

  • 亮度

  • 量子效率隨電流密度的曲線

  • 色坐標

  • 輻射通量,光通量

  • 峰值波長

 

應用領域

 

產品優勢

  • 體積小巧:便於靈活使用及運輸。

  • 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量

  • 流程化操作:設備無需頻繁校準。


產品參數

 

系統配置
配置方案 方案1 方案2
光譜儀型號QEPro / QE65Pro(可選)
光譜範圍(nm)350-1100
信噪比1000:01:00
解析度2.5 nm (FWHM)
動態範圍85000:1(QEPro單次採集);25000:1(QE65Pro單次採集)
AD位數18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
積分球尺寸3.3」1.5」
材質Spectralon
源表Keithley2400
光纖芯徑1000um(可更換其他芯徑)
校準燈角度2 Pi 型號HL-3-INT-CAL
亮度50 流明功率5W(電功率)
無線遙控 通道數4無遙控
軟體SpectrumTEQ-EL專用軟體


註:對於醫療器械類產品,請先查證核實企業經營資質和醫療器械產品註冊證情況

 

創新點:

原位測量:與整機系統相比,模塊化設計可放至手套箱內,實現原位測量,降低測量誤差 流程化操作:設備無需頻繁校準 軟體算法強大,可直接進行絕對輻射校準

電致發光量子效率測量系統 SpectrumTEQ-EL

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