專注、創新、認真、專業
貝拓科學攜旗下光學接觸角測量儀、白光幹涉薄膜厚度測量儀、表面張力儀、顯微拉曼光譜儀、手持式拉曼光譜儀及納米粒度儀,在上海慕尼黑上海分析生化展正式亮相!
讓我們來看看上海慕尼黑上海分析生化展的現場吧!
展會期間,貝拓科學的產品也得到了行業人士的關注和認可!
貝拓接觸角測量儀DSA-X PLUS
應用:
●評價表面處理的效果
●粘合與塗層過程中粘附力與穩定性研究
●塑料、玻璃、陶瓷、紙張等材料的潤溼性測試
●半導體晶片的質量控制
●表面潔淨度測試
功能:
●動靜態接觸角測量
●固體表面自由能及其組成的計算
●懸滴法測量液體的表面/界面張力
●計算及分析粘附功
●粘合與塗層過程中粘附力與穩定性研究
白光幹涉測厚儀
白光幹涉儀利用薄膜幹涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的幹涉光,用反覆校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量範圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對於100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
納米粒度儀
特點
1、 採用光子計數級的高精度光電倍增管。暗計數低、光纖耦合,高速,高穩定性。
2、 採用集成的光子相關器。基於FPGA的光子相關器,集成雙通道光子計數器,確保光子無遺漏;1000個物理通道,提供充足的測量數據;最小100ns採樣時間,確保低至1nm顆粒的測量;晶片內模塊集成設計,保證高速、穩定的數據處理流程。
3、 準確的溫控系統。基於PWM的高精度溫控系統,精度達到0.5°C,確保測量準確。
而貝拓科學的現場工作人員本著專業、認真和周到的服務,認真的解答的前來諮詢客戶的問題,使得我們的展位客戶絡繹不絕,成為展會上一到亮麗的風機線!
貝拓學科在此再次感謝新老客戶的信任與支持!
版權與免責聲明:
① 凡本網註明"來源:儀器信息網"的所有作品,版權均屬於儀器信息網,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。已獲本網授權的作品,應在授權範圍內使用,並註明"來源:儀器信息網"。違者本網將追究相關法律責任。
② 本網凡註明"來源:xxx(非本網)"的作品,均轉載自其它媒體,轉載目的在於傳遞更多信息,並不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,且不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。如其他媒體、網站或個人從本網下載使用,必須保留本網註明的"稿件來源",並自負版權等法律責任。
③ 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起兩周內與本網聯繫,否則視為默認儀器信息網有權轉載。