ESD (靜電放電)是指靜電電荷的快速轉移。當一個帶有正電荷的物體與另一個帶有負電荷的物體相接觸時,它們就要平衡其電子。電子從一個物體衝向另一個物體的過程就是ESD。
ESD可被視為電子電路及其元件的死敵。電荷向電子元件的轉移時很容易對元件造成損壞,從而使它們失去作用。可惜的是,大多數情況下當你發現時為時已晚。
這時就輪到ESD保護電容出馬了。將ESD電容放入電路中,可吸收電路可能接觸的有害ESD。有關ESD電容的相關知識,我們推薦一個精彩帖子——什麼是ESD電容?
該帖重點討論了如何選擇ESD保護電容。雖然還有許多方法可以保護電路免受ESD的影響,但是電容是一種性價比較高的解決方案。
選擇ESD保護電容時,應關注3個主要參數:
DUT效應是指在ESD試驗電路中,電容兩端的有效合成電壓。該電路如圖1所示。
圖 1:ESD試驗電路
Vx= 合成電壓
該方程式表明了Vx和Cx之間的關係。如果使Vo和Co保持恆定,則Vx和Cx成反比。這表示,選擇的Cx值越高,Vx越小。
以2000pF電容(Cx)的6kV(V0)ESD要求為例。同時還假定我們採用的是使用Co=150pF的AEC-Q200試驗方法。DUT效應關係表明,施加6kV電壓時,Cx僅顯示418.6V(Vx)。以下為數學計算步驟。
Vx=(Co/Co+Cx)Vo
Vx=(150pF/150pf+2000pF)x6kV
Vx=(0.00000000015/0.00000000015+0.000000002)x6000伏
Vx=(0.00000000015/0.00000000215)x6000伏
Vx=(0.0697674418604651)x6000伏
Vx=418.6伏
擊穿電壓是一種用於量化電容的電壓等級強度的方法。你可以採用以下方法來確定電容能夠處理的最大持續電壓:以不斷增大的速率將直流電壓加到電容,直到部件故障。因此,我們應該選擇擊穿電壓大於Vx的電容。
在給陶瓷電容印加直流電壓時,有效電容量和標稱電容量可能會有所不同。直流偏壓採用相針對標稱值的電容量變化百分比表示。下面是計算直流偏壓的方程式。
介質材料在直流偏壓中起著重要作用。不同的電容類別也有一定的影響。對於I類電容,其變化相對較小,而對於II類電容,其電容量會先略微增加,然後在接近額定電容量後穩定下降。通常對於II類電容而言,直流偏壓介於-10%到-70%之間。隨著施加電壓增加,有效電容量下降。
單獨的ESD試驗額定值並不是選擇電容值的最佳方法。如果同時關注DUT、擊穿電壓和直流偏壓影響,則可以防止保護電路的過度設計和設計不足的情況。
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