執行AEC-Q102 Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Optoelectronic Semiconductors in Automotive Applications
試驗項目:防靜電等級測試破壞性物理分析尺寸測試變頻振動機械衝擊可焊性測試滴露引線鍵合拉力晶片剪切力錫須外目檢高溫老煉壽命高溫反向偏置溫溼老煉壽命溫度循環功率老煉溫度循環光學性能參數測試間歇壽命低溫老煉壽命
服務內容根據產品類型,交付階段,認證類型提供詳盡合理的認證方案.根據制定方案,提供全面認證測試服務,出具權威第三方測試報告
特色增值服務失效品失效分析,定位失效原因,明確失效機理,指導產品改進升級;根據產品失效機理,提供全面可靠性提升方案;