佚名 發表於 2020-12-02 09:39:53
一、Keithley SourceMeter光儀器產品介紹:
通過 Keithley 儀器,可以輕鬆構建 LIV(光功率-電流-電壓)系統,從而經濟高效地測試雷射二極體模塊。
光纖對準光電二極體儀表 2502 :高速模擬輸出使得可在光纖對準工作檯執行 LIV 測試。
帶可選積分球 2520/KIT1 的脈衝雷射二極體測試系統 :同步測試系統,為脈衝和連續 LIV 測試提供純源化和測量功能。
註:此產品無法發貨到歐盟國家。 詳細信息 。
TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT :確保通過控制其熱電冷卻器,為雷射二極體模塊提供嚴格的溫度控制。
二、Keithley SourceMeter 光儀器特點:
主動溫度控制
50W TEC 控制器
全數字 P-I-D 控制
適用於熱控制環路的自動調諧功能 (2510-AT)
寬溫度設定值範圍(–50°C 至 +225°C)以及高設定值解析度 (±0.001°C) 和穩定性 (±0.005°C)
兼容於多種溫度傳感器輸入 — 熱敏電阻、RTD 和 IC 傳感器
交流歐姆測量功能
適用於熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測
三、Keithley SourceMeter 光儀器優勢:
防止溫度變化可能引起雷射二極體主輸出波長發生變化,導致出現信號重疊和串擾問題。
比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設定值範圍。
提供更高的溫度穩定性,並可通過簡單的固件變化輕鬆升級。
無需反覆試驗即可確定 P、I 和 D 係數的組合。
能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產測試的測試要求。
適合常用於各類雷射二極體模塊的溫度傳感器類型。
驗證 TEC 器件的完整性。
消除引線電阻測量值誤差,減少假故障或設備損壞的可能性。
責任編輯:gt
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