傳統使用VCE進行短路檢測時,因需兼顧檢測一類短路和二類短路的需要,VCE需要較高的閾值,這使得驅動器只能在IGBT退飽和時的VCE快速上升階段檢測到IGBT的短路狀態。利用兩級di/dt分別檢測兩類短路,會在VCE檢測盲區時間內就檢測到兩類短路狀態。因此,無論是一類短路還是二類短路,利用兩級di/dt檢測短路的方法,通過設置合適的檢測閾值,都擁有更快的檢測速度從而最佳地保護IGBT模塊。
需要注意的是兩級di/dt分別檢測IGBT模塊的兩類短路需配合適當的軟關斷電路才能發揮其快速檢測IGBT模塊短路的優勢。當驅動器快速檢測到IGBT發生短路後不能立即直接關斷IGBT模塊,因為此時電流還在不斷上升,如果直接關斷IGBT模塊將會產生非常高的電壓尖峰,會危及IGBT的安全。若使用硬關斷,則需等待VCE上升至母線電壓方可動作;若使用軟關斷,可立即動作,緩慢降低門極電壓,電流會逐漸降低,此時VCE上升速率會加快,但產生的過壓會非常小。
3 、實驗結果與分析
為驗證本文所設計的短路檢測策略較傳統短路檢測方法的優越性,使用3 300 V/1 200 A IGBT模塊進行短路實驗[5],在實驗中將母線電壓調整為1 500 V。
圖3(a)為一類短路測試原理圖,電網電壓經過調壓器和整流橋,將母線電容電壓充到1 500 V,上管IGBT的門極被-15 V關斷,且用粗短的銅排將其短路。對下管的IGBT釋放一個12 μs的單脈衝,直通就形成一類短路。圖3(b)為二類短路測試原理圖,將母線電容電壓同樣充到1 500 V,上管IGBT的門極被-15 V關斷,且給上管並聯一個4 μH的電感作為負載,下橋臂通過IGBT驅動器釋放一個15 μs的單脈衝就形成二類短路。
圖4為傳統使用VCE檢測短路的波形。VCE檢測閾值為4 V,短路檢測盲區時間8 μs。圖4(a)為一類短路的測試波形,由圖可知,驗證所用IGBT模塊發生一類短路後開通4 μs時電流上升到最大值6.12 kA,短路持續時間約8 μs,短路損耗約60 J。圖4(b)為二類短路測試波形,由波形可知,發生二類短路後開通約14 μs電流上升到最大值6.80 kA,短路損耗約12 J。