NCV70522在汽車自適應前照燈系統(AFS)應用中堵轉檢

簡介

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/196176.htm

由於機械結構的限制，自適應前照燈系統(AFS)應用中，步進電機有時可能會堵轉。一旦電機堵轉，電子控制單元(ECU)將失去前照燈位置的跟蹤信息並作出不恰當的反應，滋生極嚴重的安全問題，所以AFS應用中堵轉檢測是必不可少的。

通常可以通過電機的反電動勢(BEMF)來判斷電機堵轉與否。BEMF因電機速度、負載及供電電壓的不同而變化。傳統的步進電機驅動晶片無BEMF輸出，但包含內置堵轉檢測算法。客戶僅可以在寄存器裡設定固定的堵轉認定臨界值，這表示在真實道路條件下所有設定值都必須在工作之前「離線」預設，而不能適配真實工作條件。

安森美半導體的NCV70522微步步進電機驅動器透過SLA引腳提供BEMF輸出，這表示它能實時進行停轉檢測計算，並根據不同條件來調節檢測等級。

算法說明

由於線圈電流衰減期間的再循環電流相對較大，線圈電壓Vcoil就展示出瞬態特性。由於應用軟體中並不總是想要瞬態，就可以通過位的設定值來選擇兩種工作模式。在為高下，SLA引腳顯示出完全可視的電壓瞬態特性。如果位被清除，那麼SLA引腳上僅可視每個線圈電流過零末端的電壓樣本。由於線圈電壓的瞬態特性不再可視，這種模式產生更平常的BEMF輸入，用於軟體等的後續處理。

為了將採樣的BEMF輸出電平適應到(0 V至5 V)範圍，採樣的線圈電壓Vcoil可選擇被除以2或4。此設定通過SPI位來控制。下圖顯示了SLA引腳的工作，透明位「PWMsh」及「Icoil=0」是內部信號，與SLAT一起定義線圈電壓的採樣以及維持瞬間。

此BEMF電壓在每個所謂的「線圈電流過零」期間採樣。每個線圈在每個電氣周期內存在2個零電流位置，因而每個電氣周期共有4個過零觀察點，故可以測量4次BEMF。如果微步位置位於「線圈電流過零點」，BEMF電壓將僅由電機驅動器採樣。微步位置可以通過SPI接口來讀取。

通過軟體，我們可以基於測量的1個電氣周期內的4次SLA值來靈活地判斷是否堵轉。

算法應用

NCV70522是一款微步步進電機驅動器，用於雙極型步進電機。這晶片通過I/O引腳及SPI接口連接至外部微控制器。NCV70522輸出電流有多種選擇。它根據「NXT」輸入引腳上的脈衝信號以及方向寄存器[DIRCTRL]或「DIR」輸入引腳的狀態來轉動下一個微步。這器件提供從滿步到32微步的細分、由SPI寄存器SM[2:0]來選擇的7種步進模式。NCV70522包含SLA的輸出，可以用於堵轉檢測算法及根據電機的BEMF來調節轉矩和速度計算。典型應用電路圖如圖2所示。

當系統上電時候，微控制器就會初始化，NCV70522復位。這些動作完成時，線圈電流及步進模式將被設定。然後電機驅動器將啟用。NXT脈衝將被發送實現轉動電機。電機轉速等於NXT脈衝頻率乘以步進細分模式的值。圖3是流程圖。

示例：在正常狀態及堵轉狀態時檢查SLA輸出電平，如下所示：

因此，我們可以認為：如果4個「線圈電流過流點」中有2個SLA電平低於1.5 V，那麼就處於堵轉狀態。

簡介

與傳統步進電機驅動器IC相比，NCV70522包含BEMF輸出，能夠實時地 準確地反應電機運轉情況，非常適合汽車自適應前照燈系統中的應用。堵轉檢測閾值可以根據電機速度、負載特性及供電電壓的不同來調節。