原標題：粉末樣品做目數分析單位 目數和顆粒度有什麼區別？
一般來說 檢測粒度一般325目以下可以採用篩分法，如果高於325目須使用雷射粒度分析儀，顆粒計數器，沉降儀，顆粒圖像處理儀等粒度測試儀器。 磨料因為有國標，顆粒投影的最大寬度定義為顆粒直徑，一般普通磨料用沉降管，掃描光電沉降儀；超硬磨料用顆粒圖像處理儀；日本磨料用庫爾特計數器；現在比較先進的多採用雷射粒度儀。
在磨料粒度測量中，可用顯微鏡用顆粒投影的最大寬度代表顆粒的大小；沉降法用沉降速度的大小來量度顆粒的大小；庫爾特法（電阻法）用顆粒在電解液中引起的電阻變化來測量顆粒大小；雷射粒度儀則用散射（衍射）光斑的大小來量度顆粒的大小。
粒度測試 是通過特定的儀器和方法對粉體粒度特性進行表徵的一項實驗工作。粉體在我們日常生活和工農業生產中的應用非常廣泛。如麵粉、水泥、塑料、造紙、橡膠、陶瓷、藥品等等。在的不同應用領域中，對粉體特性的要求是各不相同的，在所有反映粉體特性的指標中，粒度分布是所有應用領域中最受關注的一項指標。所以客觀真實地反映粉體的粒度分布是一項非常重要的工作
常的測量儀器都有準確性方面的指標。由於粒度測試的特殊性，通常用真實性來表示準確性方面的含義。由於粒度測試所測得的粒徑為等效粒徑，對同一個顆粒，不同的等效方法可能會得到不同的等效粒徑。
可見，由於測量方法不同，同一個顆粒得到了兩個不同的結果。也就是說，一個不規則形狀的顆粒，如果用一個數值來表示它的大小時，這個數值不是唯一的，而是有一系列的數值。而每一種測試方法的都是針對顆粒的某一個特定方面進行的，所得到的數值是所有能表示顆粒大小的一系列數值中的一個，所以相同樣品用不同的粒度測試方法得到的結果有所不同的是客觀原因造成的。顆粒的形狀越複雜，不同測試方法的結果相差越大。但這並不意味著粒度測試結果可以漫無邊際，而恰恰應具有一定的真實性，就是應比較真實地反映樣品的實際粒度分布。真實性目前還沒有嚴格的標準，是一個定性的概念。但有些現象可以做為測試結果真實性好壞的依據。比如儀器對標準樣的測量結果應在標稱值允許的誤差範圍內；經粉碎後的樣品應比粉粉碎前更細；經分級後的樣品的大顆粒含量應減少；結果與行業標準或公認的方法一致等
雷射法檢測粒度
雷射法是根據雷射照射到顆粒後，顆粒能使雷射產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。由雷射器的發生的雷射，經擴束後成為一束直徑為10mm左右的平行光。在沒有顆粒的情況下該平行光通過富氏透鏡後匯聚到後焦平面上。如下圖所示：
當通過適當的方式將一定量的顆粒均勻地放置到平行光束中時，平行光將發生散現象。一部分光將與光軸成一定角度向外傳播。如下圖：
那麼，散射現象與粒徑之間有什麼關係呢？理論和實驗都證明：大顆粒引發的散射光的角度小，顆粒越小，散光與軸之間的角度就越大。這些不同角度的散射光通過富姓氏透鏡後在焦平面將形成一系列有不同半徑的光環，由這些光環組成的明暗交替的光斑稱為Airy斑。Airy斑中包含著豐富粒度信息，簡單地理解就是半徑大的光環對應著較小的粒徑；半徑小的光環對應著較大的粒徑；不同半的光環光的強弱，包含該粒徑顆粒的數量信息。這樣我們在焦平上放置一系列的光電接收器，將由不同粒徑顆粒散射的光信號轉換成電信號，並傳輸到計算機中，通過米氏散理論對這些信號進行數學處理，就可以得到粒度分布了。
篩分法檢測粒度
篩分法是一種最傳統的粒度測試方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分幹篩和溼篩兩種形式，可以用單個篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率，也可以用多個篩子疊加起來同時測量多個粒徑顆粒的通過率，並計算出百分數。篩分法有手工篩、振動篩、負壓篩、全自動篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與顆粒的取向和篩分時間等素因素有關，不同的行業有各自的篩分方法標準。
電阻檢測粒度
電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人發明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過一個小微孔的瞬間，佔據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體，使小微孔兩端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時，小微孔的兩端將連續產生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了
顯微圖像法檢測粒度
顯微圖像法包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數碼像機）、圖形採集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大後的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形採集卡傳輸到計算機中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量，就可以得到粒度分布了。
由於這種方法單次所測到的顆粒個數較少，對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結果的真實性。除了進行粒度測試之外，顯微圖像法還常用來觀察和測試顆粒的形貌。返回搜狐，查看更多
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