美國MAS發布Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀新品

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

典型應用：

綜合穩定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，塗料，化妝品，環境保護禪選法礦物富集，食品工業，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；

3）可適用於高導電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對樣品汙染的幹擾；

5）可精確測量無水體系；

6）Zeta電位測試採用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；

8）具有自動電位滴定功能；

優於光學方法的技術優勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對樣品汙染的幹擾；

3)不需定標；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側粒徑範圍款從5 nm至1000um

優於electroactics方法的技術優勢：

1)無需定標；

2)能測更寬的粒徑範圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電錶面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用於無水體系；

7)可適用於高導電(highly conducting)體系；

優於微電泳方法的技術優勢：

1)無需稀釋，固合量高達60%；

2)可排除雜質及對樣品汙染的幹擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可精確測量無水體系；

技術參數：

1)所檢測粒徑範圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量範圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH範圍：0~14;

8)電導率範圍：0~10 s/m

創新點：

Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。此儀器容易使用、測量精確。對於高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對於漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

版權與免責聲明：

① 凡本網註明"來源：儀器信息網"的所有作品，版權均屬於儀器信息網，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。已獲本網授權的作品，應在授權範圍內使用，並註明"來源：儀器信息網"。違者本網將追究相關法律責任。

② 本網凡註明"來源：xxx（非本網）"的作品，均轉載自其它媒體，轉載目的在於傳遞更多信息，並不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，且不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。如其他媒體、網站或個人從本網下載使用，必須保留本網註明的"稿件來源"，並自負版權等法律責任。

③ 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起兩周內與本網聯繫，否則視為默認儀器信息網有權轉載。