電鏡市場添新玩家:Delmic首發超快體電鏡新品FAST-EM,線上發布會...

儀器信息網訊 荷蘭Delmic消息，致力於為光學和電子顯微鏡開發功能強大且用戶友好的解決方案的供應商Delmic將全新推出超快體電鏡FAST-EM，並將在北京時間12月1日下午5點至6點召開線上發布演示會，報名通道：www.delmic.com/zh

據介紹，Delmic的最新超快體電鏡FAST-EM，一臺創造根本性轉變的劃時代電子顯微鏡，實現前所未有的大面積納米級成像！使用64電子束並縮短駐留時間，使得掃描電鏡提速100倍，同時為操控人員騰出時間專注於數據分析和注釋。由於其高達4納米的解析度，FAST-EM將幫助神經生物學和癌症研究等領域實現高而準確的通量。

FAST-EM是一款由賽默飛 （Thermo Fisher Scientific）和荷蘭Delmic公司聯合開發的超快速自動多光束電子顯微鏡，旨在使複雜且大型的電鏡項目變得簡單高效。FAST-EM具有自動採集功能，因此這種高通量系統非常適合對大型或多個樣本進行成像以進行定量分析。系統提供了強大的洞悉力，同時極大簡化工作流程，使用戶可以將重點從顯微鏡操作轉移到數據分析。FAST-EM可用於探索細胞結構，神經元迴路的相互作用以及生命科學中任何生物材料的分析。對於大量3D成像和大規模2D成像都十分有幫助，還可以作為顯著加快日常顯微鏡設施工作速度的工具使用。

Demic即將在明天舉行FAST-EM的正式新品發布演示會！此次演示將首次介紹該系統的完整工作流程，全面展示這個劃時代的電子顯微鏡將如何改變你的電鏡操作方式！創建大型2D甚至3D的圖像將不再需要幾天或幾周的時間：有了FAST-EM，您將開啟極速工作效率，並專注於那些真正需要您付出腦力解決的事情。

演示亮點

◆ 展示系統硬體構造

◆ 講解完整的工作流程步驟

◆ 演示圖片獲取的過程

◆ 分享系統收集到的各種數據

◆ 介紹如何使用系統配套軟體處理數據

演示者：Job Fermie博士

時間：12月1日（周二），北京時間下午5點

註冊參與，見證64電子束的強大力量！

現在您可以立即前往Delmic的官網中文首頁www.delmic.com/zh，註冊預留您的位置參加明天（北京時間下午5點）的新品發布演示會。

 關於Delmic

Delmic是一家位於荷蘭代爾夫特（Delft）的充滿激情的高科技公司，致力於為光學和電子顯微鏡開發功能強大且用戶友好的解決方案。

Delmic相信成像能夠提供對系統的基本了解，因此是創造更美好世界不可或缺的一部分，也因此Delmic旨在不斷創新，以便為客戶提供強大的細節洞悉力，並通過簡單的工作流程使研究變得越發容易。

2011年，代爾夫特理工大學（TUD）的帶電粒子光學小組和位於阿姆斯特丹的NWO-AMOLF研究所的科學家們聯合成立了Delmic。最初的產品是在TUD開發的光電聯用顯微系統SECOM，以及在AMOLF開發的SPARC陰極發光系統。

從那時起，Delmic一直在擴展我們的產品系列，包括陰極發光探測系統和模塊（SPARC Compact，JOLT和LAB Cube）以及完全一體化的光電聯用顯微鏡（DELPHI）。目前，Delmic繼續與在代爾夫特和阿姆斯特丹的創始機構合作，並致力於新產品的研發。從生命科學、地質學、材料科學到納米光子學等領域，全世界的研究人員和公司都在使用Delmic的系統。

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